发明公开
- 专利标题: 电容式测量中补偿温度影响的方法
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申请号: CN201980034306.X申请日: 2019-05-23
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公开(公告)号: CN112154304A公开(公告)日: 2020-12-29
- 发明人: B·安蒂 , H·吉伦斯 , C·乌里格 , C·文德 , L·希尔莱 , D·J·托马斯 , J·利普塔克
- 申请人: IEE国际电子工程股份公司
- 申请人地址: 卢森堡埃希特纳赫
- 专利权人: IEE国际电子工程股份公司
- 当前专利权人: IEE国际电子工程股份公司
- 当前专利权人地址: 卢森堡埃希特纳赫
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 刘瑜
- 国际申请: PCT/EP2019/063302 2019.05.23
- 国际公布: WO2019/224291 EN 2019.11.28
- 进入国家日期: 2020-11-20
- 主分类号: G01D5/24
- IPC分类号: G01D5/24 ; G01D18/00 ; G01D3/032
摘要:
描述了一种操作用于温度影响的补偿的电容式测量系统(10)的方法。电容式测量系统(10)包括处于安装状态的至少一个电容式传感器构件(12)和用于根据通过至少一个电容式传感器构件(12)的复感测电流确定未知电容的复阻抗的电容式测量电路(14)。在该方法中,执行校准测量以获得所确定的阻抗的实部和虚部两者的温度特性(42、44)。在随后的在当前温度(Tcurr)下对未知电容的阻抗测量中,确定(58)所测量的阻抗的实部和虚部,并且基于在当前温度(Tcurr)下所确定的实部以及实部和虚部两者的所确定的温度特性(42、44),校正(60)在当前温度(Tcurr)下所确定的阻抗的虚部。
公开/授权文献
- CN112154304B 电容式测量中补偿温度影响的方法 公开/授权日:2024-01-12