一种用于对芯片使用寿命进行测试的方法及系统
Abstract:
本发明公开了一种用于对芯片使用寿命进行测试的方法及系统,其中方法包括:S1,通过测试软件发起被测芯片的写入数据指令,向被测芯片的寄存器写入模拟测试数据,对写入的所述模拟测试数据的正确性进行判断,获取判断结果;S2,当判断结果为所述模拟测试数据正确时,所述被测芯片执行初始化指令后执行步骤S1;或者当判断结果为所述模拟测试数据错误时,结束对被测芯片的测试,并对所述被测芯片的寿命周期进行计算:设一个测试周期的被测芯片的写入模拟测试数据的次数为S,用电信息采集系统抄读的频率不少于V min/次,则被测芯片寿命使用周期的计算结果T=S*V min。
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