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公开(公告)号：CN113156295A
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN202110308368.4
申请日：2021-03-23
申请人： 中国电力科学研究院有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院 , 北京智芯微电子科技有限公司
发明人： 曹永峰 , 翟峰 , 赵兵 , 许海清 , 赵东艳 , 梁晓兵 , 原义栋 , 付义伦 , 王楠 , 李保丰 , 许斌 , 孔令达 , 徐萌 , 李奇 , 董之微 , 朱钰 , 于同伟 , 卢岩 , 刘鹰 , 冯云 , 岑炜 , 张庚 , 袁泉 , 冯占成 , 任博 , 周琪 , 卢艳 , 韩文博 , 郑旖旎
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明公开了一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法及系统，属于电网用电信息采集技术领域。本发明方法，包括：设置电力芯片内置的多种算法的权重，并根据权重确定每种算法的权重比例；针对待测的电力芯片，发送多组测试数据，并记录发送测试数据的时间，及接收反馈数据的时间；根据发送测试数据的时间及接收反馈数据的时间，确定每组测试数据的响应时间；根据每组测试数据的响应时间及权重比例，确定电力芯片的响应时间。本发明为芯片在具体设备中的应用提供了关键技术指标，为芯片生产及场景应用提供技术指导，有效的促进芯片产业链的应用对接。
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公开(公告)号：CN113156295B
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202110308368.4
申请日：2021-03-23
申请人： 中国电力科学研究院有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院 , 北京智芯微电子科技有限公司
发明人： 曹永峰 , 翟峰 , 赵兵 , 许海清 , 赵东艳 , 梁晓兵 , 原义栋 , 付义伦 , 王楠 , 李保丰 , 许斌 , 孔令达 , 徐萌 , 李奇 , 董之微 , 朱钰 , 于同伟 , 卢岩 , 刘鹰 , 冯云 , 岑炜 , 张庚 , 袁泉 , 冯占成 , 任博 , 周琪 , 卢艳 , 韩文博 , 郑旖旎
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明公开了一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法及系统，属于电网用电信息采集技术领域。本发明方法，包括：设置电力芯片内置的多种算法的权重，并根据权重确定每种算法的权重比例；针对待测的电力芯片，发送多组测试数据，并记录发送测试数据的时间，及接收反馈数据的时间；根据发送测试数据的时间及接收反馈数据的时间，确定每组测试数据的响应时间；根据每组测试数据的响应时间及权重比例，确定电力芯片的响应时间。本发明为芯片在具体设备中的应用提供了关键技术指标，为芯片生产及场景应用提供技术指导，有效的促进芯片产业链的应用对接。
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公开(公告)号：CN112214339A
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN202010916320.7
申请日：2020-09-03
申请人： 中国电力科学研究院有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院 , 北京智芯微电子科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种用于对芯片使用寿命进行测试的方法及系统，其中方法包括：S1,通过测试软件发起被测芯片的写入数据指令，向被测芯片的寄存器写入模拟测试数据，对写入的所述模拟测试数据的正确性进行判断，获取判断结果；S2,当判断结果为所述模拟测试数据正确时，所述被测芯片执行初始化指令后执行步骤S1；或者当判断结果为所述模拟测试数据错误时，结束对被测芯片的测试，并对所述被测芯片的寿命周期进行计算：设一个测试周期的被测芯片的写入模拟测试数据的次数为S，用电信息采集系统抄读的频率不少于V min/次，则被测芯片寿命使用周期的计算结果T＝S*V min。
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公开(公告)号：CN110119640B
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN201910427488.9
申请日：2019-05-22
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司
IPC分类号： G06F21/75
摘要： 本发明公开了一种双轨预充电逻辑单元及其预充电方法，该双轨预充电逻辑单元对现有的双轨预充电逻辑单元中的单轨LBDL逻辑与门以及单轨LBDL逻辑非门分别进行了改进，改进后的该双轨预充电逻辑单元共包括N1～N12，P1～P12，I1～I2共28个晶体管，相比于现有的双轨预充电逻辑单元本发明采用了更少的晶体管、占用更少的版图面积，同时保证了逻辑单元的抗DPA攻击能力。
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公开(公告)号：CN109101814B
公开(公告)日：2020-09-04
申请号：CN201810756557.6
申请日：2018-07-11
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院
IPC分类号： G06F21/55
摘要： 本发明公开了一种对电路的硬件木马进行检测的方法、系统及芯片，该检测方法将存在内在逻辑关系的低活性节点之间作为片上自检测单元的植入位置并在植入片上自检测单元；当存在内在逻辑关系的低活性节点达到稀有状态时，片上自检测单元在线监测低活性节点之间的内在逻辑关系是否发生变化，若该内在逻辑关系被打破，则认为存在硬件木马。该对电路的硬件木马进行检测的方法、系统及芯片在不需要借助外部测试设备和工具、不破坏原始电路功能的前提下高效地检测硬件木马。
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公开(公告)号：CN110364210B
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN201910664971.9
申请日：2019-07-23
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院
摘要： 本发明公开了一种基于LUT结构的双轨预充电AND‑NAND单元，包括：单轨LBDL逻辑与门，其包括第一PMOS晶体管P1、第二PMOS晶体管P2、第三PMOS晶体管P3、第一NMOS晶体管N1、第二NMOS晶体管N2和第一反相器I1；以及单轨LBDL逻辑与非门，其包括第四PMOS晶体管P4，第五PMOS晶体管P5、第三NMOS晶体管N3、第四NMOS晶体管N4，第五NMOS晶体管N5和第二反相器I2。本发明的双轨预充电AND‑NAND单元使用更少的晶体管，占用更少的版图面积，同时保证了优秀的抗DPA攻击能力。
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公开(公告)号：CN112367224A
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：CN202011255639.6
申请日：2020-11-11
申请人： 全球能源互联网研究院有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种终端监测装置、系统及方法，该装置包括：监测模块和管理模块，管理模块，管理模块包括参数接收单元，参数接收单元用于接收外部输入的参数配置指令，根据参数配置指令生成配置文件发送至监测模块；监测模块，用于接收配置文件，根据配置文件设置监测参数对终端安全状态进行监测。通过实施本发明，设置管理模块和监测模块，管理模块接收参数配置指令，生成配置文件，监测模块接收配置文件生成监测参数，进行安全监测。由此，当该装置运行在不同的环境中时，可以接收不同的指令生成监测参数，使其可以适应不同的软硬件环境，更加有效地对终端进行安全防护，保障终端业务的正常运行，提高了终端安全监测的适应性。
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公开(公告)号：CN110119640A
公开(公告)日：2019-08-13
申请号：CN201910427488.9
申请日：2019-05-22
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司
IPC分类号： G06F21/75
摘要： 本发明公开了一种双轨预充电逻辑单元及其预充电方法，该双轨预充电逻辑单元对现有的双轨预充电逻辑单元中的单轨LBDL逻辑与门以及单轨LBDL逻辑非门分别进行了改进，改进后的该双轨预充电逻辑单元共包括N1～N12，P1～P12，I1～I2共28个晶体管，相比于现有的双轨预充电逻辑单元本发明采用了更少的晶体管、占用更少的版图面积，同时保证了逻辑单元的抗DPA攻击能力。
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公开(公告)号：CN109101814A
公开(公告)日：2018-12-28
申请号：CN201810756557.6
申请日：2018-07-11
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院
IPC分类号： G06F21/55
摘要： 本发明公开了一种对电路的硬件木马进行检测的方法、系统及芯片，该检测方法将存在内在逻辑关系的低活性节点之间作为片上自检测单元的植入位置并在植入片上自检测单元；当存在内在逻辑关系的低活性节点达到稀有状态时，片上自检测单元在线监测低活性节点之间的内在逻辑关系是否发生变化，若该内在逻辑关系被打破，则认为存在硬件木马。该对电路的硬件木马进行检测的方法、系统及芯片在不需要借助外部测试设备和工具、不破坏原始电路功能的前提下高效地检测硬件木马。
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公开(公告)号：CN109100635A
公开(公告)日：2018-12-28
申请号：CN201810756556.1
申请日：2018-07-11
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/317
摘要： 本发明公开了一种对多通道金属屏蔽布线层进行完整性检测的电路及方法。该电路包括随机数产生电路和信号比对电路。随机数产生电路用于产生随机数序列，每一路随机数均通过两个传输通道进行传输，所述两个传输通道分别为所述多通道金属屏蔽布线层和所述芯片的下层金属线；信号比对电路对所述两个传输通道输出至所述信号比对电路的随机数信号进行比对，当比对失败的次数超过一定数值，则认为该芯片的多通道金属屏蔽布线层受到攻击并产生报警信号。所述对多通道金属屏蔽布线层进行完整性检测的电路及方法能够准确地检测多通道金属屏蔽布线层是否受到攻击，避免走线内信号干扰造成的误判。
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