发明公开
- 专利标题： 太赫兹光谱测量装置、测量方法及其用途
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申请号： CN201910637843.5申请日： 2019-07-15
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公开(公告)号： CN112229814A公开(公告)日： 2021-01-15
- 发明人: 林琦 , 林中晞 , 朱振国 , 钟杏丽 , 苏辉
- 申请人： 中国科学院福建物质结构研究所
- 申请人地址： 福建省福州市杨桥西路155号
- 专利权人： 中国科学院福建物质结构研究所
- 当前专利权人： 中国科学院福建物质结构研究所
- 当前专利权人地址： 福建省福州市杨桥西路155号
- 代理机构： 北京知元同创知识产权代理事务所
- 代理商 张祖萍
- 主分类号： G01N21/3581
- IPC分类号： G01N21/3581 ; G01N21/41 ; G01B11/06 ; G01R27/02
摘要：
本发明属于材料太赫兹频率范围光电相关性能测试技术领域，具体涉及一种太赫兹光谱测量方法、测量装置及其用途。本发明提供一种太赫兹光谱的测量装置，包括两频差在太赫兹波段的差频激光源、太赫兹发射天线、太赫兹接收天线、偏置电压电路、太赫兹光学系统、信号输出采集电路和相位或光程调节系统。本发明还提供使用所述测量装置测量太赫兹光谱的方法，以及所述装置和方法的用途。
公开/授权文献
- CN112229814B 太赫兹光谱测量装置、测量方法及其用途 公开/授权日：2021-11-05
IPC分类:
