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公开(公告)号：CN109580189B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN201910059715.7
申请日：2019-01-22
申请人： 中国科学院福建物质结构研究所
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本申请公开了一种用于激光二极管的自动焦距测量装置及其测量方法，包括：测量模块，用于测量待测激光二极管耦合进入耦合部件中的光功率；运动耦合机构，用于移动耦合部件；上位机，用于控制耦合部件移动以测量任一Z轴坐标下，X‑Y平面内耦合部件与待测激光二极管的最大耦合光功率值，根据测量结果及耦合部件的位置坐标获得待测激光二极管的焦距和/或空间偏向角；上位机分别与测量模块和运动耦合机构电连接。该装置实现了对TO‑LD或LD的焦距和与空间偏向角的自动准确测量。本申请的有一方面还提供了该装置的测量方法。
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公开(公告)号：CN112229814A
公开(公告)日：2021-01-15
申请号：CN201910637843.5
申请日：2019-07-15
申请人： 中国科学院福建物质结构研究所
IPC分类号： G01N21/3581 , G01N21/41 , G01B11/06 , G01R27/02
摘要： 本发明属于材料太赫兹频率范围光电相关性能测试技术领域，具体涉及一种太赫兹光谱测量方法、测量装置及其用途。本发明提供一种太赫兹光谱的测量装置，包括两频差在太赫兹波段的差频激光源、太赫兹发射天线、太赫兹接收天线、偏置电压电路、太赫兹光学系统、信号输出采集电路和相位或光程调节系统。本发明还提供使用所述测量装置测量太赫兹光谱的方法，以及所述装置和方法的用途。
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公开(公告)号：CN108808443B
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN201810751784.X
申请日：2018-07-10
申请人： 中国科学院福建物质结构研究所 , 中国科学院大学
摘要： 本发明涉及一种基于正交光栅结构的单纵横模激光器及其制备方法，其中，单纵横模激光器包括：上包层、上波导层、有源区、下波导层和下包层；其中，下包层、下波导层、有源区、上波导层和上包层从下往上依次设置；所述下波导层或者下包层内具有周期分布的第一光栅，所述上波导层或者上包层内具有周期分布的第二光栅，所述第二光栅与所述第一光栅具有相互正交的排布方式。本发明提供的基于正交光栅结构的单纵横模激光器，利用位于有源区上下两个波导层中相互正交的周期光栅进行模式选择，实现单纵横模的输出，改善激光器的光束质量，提高输出功率。
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公开(公告)号：CN108683078B
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN201810645722.0
申请日：2018-06-21
申请人： 中国科学院福建物质结构研究所
摘要： 本发明涉及一种波长可调谐的半导体激光器，包括：有源层、波导层和分离限制层；其中，波导层位于有源层和分离限制层之间；波导层包括脊波导和微腔，微腔位于脊波导的一侧。本发明提供的波长可调谐的半导体激光器，利用电调制脊波导的饱和吸收区产生的增益杠杆效应，能够增大半导体激光器的3dB带宽，实现高速调制。本发明提出的半导体激光器还利用半导体激光器侧边上的微腔结构，实现对半导体激光器波长的选择性输出。
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公开(公告)号：CN112229814B
公开(公告)日：2021-11-05
申请号：CN201910637843.5
申请日：2019-07-15
申请人： 中国科学院福建物质结构研究所
IPC分类号： G01N21/3581 , G01N21/41 , G01B11/06 , G01R27/02
摘要： 本发明属于材料太赫兹频率范围光电相关性能测试技术领域，具体涉及一种太赫兹光谱测量方法、测量装置及其用途。本发明提供一种太赫兹光谱的测量装置，包括两频差在太赫兹波段的差频激光源、太赫兹发射天线、太赫兹接收天线、偏置电压电路、太赫兹光学系统、信号输出采集电路和相位或光程调节系统。本发明还提供使用所述测量装置测量太赫兹光谱的方法，以及所述装置和方法的用途。
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公开(公告)号：CN109580189A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201910059715.7
申请日：2019-01-22
申请人： 中国科学院福建物质结构研究所
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本申请公开了一种用于激光二极管的自动焦距测量装置及其测量方法，包括：测量模块，用于测量待测激光二极管耦合进入耦合部件中的光功率；运动耦合机构，用于移动耦合部件；上位机，用于控制耦合部件移动以测量任一Z轴坐标下，X-Y平面内耦合部件与待测激光二极管的最大耦合光功率值，根据测量结果及耦合部件的位置坐标获得待测激光二极管的焦距和/或空间偏向角；上位机分别与测量模块和运动耦合机构电连接。该装置实现了对TO-LD或LD的焦距和与空间偏向角的自动准确测量。本申请的有一方面还提供了该装置的测量方法。
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公开(公告)号：CN108493581B
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN201810265152.2
申请日：2018-03-28
申请人： 中国科学院福建物质结构研究所
摘要： 本发明属于太赫兹技术领域，具体涉及一种太赫兹天线结构及包括该天线结构的辐射源和探测器。本发明通过将常规太赫兹天线结构的半导体衬底厚度从几百微米减小到几微米，以及把高介电常数的硅透镜替换成低介电常数的透镜，提高了金属天线的输入电阻，提高了匹配效率和方向性。所述太赫兹天线结构可以有效提高两到三倍的输出功率和探测灵敏度。当天线作为辐射源时，提高了输出功率；当天线作为探测器时，提高了探测灵敏度。
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公开(公告)号：CN113708219A
公开(公告)日：2021-11-26
申请号：CN202110991003.6
申请日：2021-08-26
申请人： 中国科学院福建物质结构研究所
摘要： 本发明涉及光通信技术领域，具体涉及一种半导体量子阱激光器及其制备方法，所述激光器包括其外延结构包括自下而上依次设置的衬底、缓冲层、下限制层、有源层、上限制层和接触层；所述上保护层上设置有脊波导和若干刻蚀槽，所述刻蚀槽分布在脊波导上，所述刻蚀槽将所述脊波导分割成若干不连续的脊波导分段。本发明实现类似于啁啾，切趾或者相移光栅效应，来实现较窄的线宽输出，同时可以避免光栅制造，二次外延生长等复杂工艺，简化激光器的制备工艺。
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公开(公告)号：CN108808443A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201810751784.X
申请日：2018-07-10
申请人： 中国科学院福建物质结构研究所 , 中国科学院大学
CPC分类号： H01S5/12 , H01S5/34373
摘要： 本发明涉及一种基于正交光栅结构的单纵横模激光器及其制备方法，其中，单纵横模激光器包括：上包层、上波导层、有源区、下波导层和下包层；其中，下包层、下波导层、有源区、上波导层和上包层从下往上依次设置；所述下波导层或者下包层内具有周期分布的第一光栅，所述上波导层或者上包层内具有周期分布的第二光栅，所述第二光栅与所述第一光栅具有相互正交的排布方式。本发明提供的基于正交光栅结构的单纵横模激光器，利用位于有源区上下两个波导层中相互正交的周期光栅进行模式选择，实现单纵横模的输出，改善激光器的光束质量，提高输出功率。
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公开(公告)号：CN109084884B
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN201811023302.5
申请日：2018-09-03
申请人： 中国科学院福建物质结构研究所
IPC分类号： G01H9/00
摘要： 本发明实施例涉及一种零差激光测振装置及其振动检测方法，该装置包括激光光源和光学干涉单元，所述激光光源用于发射测量振动所需的激光；所述光学干涉单元包括干涉结构和光束位移分光元件，所述干涉结构用于将激光投射到待测物体上、接收待测物体反射的光，并构造相干光，生成待测光束；所述光束位移分光元件能够将待测光束分为透射光束、第一反射光束和第二反射光束，第一反射光束和第二反射光束的相位差为π/2的奇数倍。利用该装置测振能够避免零差激光测振技术的非线性误差，且该装置结构简单、成本低。
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