发明授权
- 专利标题: 基于改进注意力机制的薄膜瑕疵检测方法
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申请号: CN202011100208.2申请日: 2020-10-15
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公开(公告)号: CN112233090B公开(公告)日: 2023-05-30
- 发明人: 王慧燕 , 沈秋芳 , 何浩
- 申请人: 浙江工商大学 , 浙江小芃科技有限公司
- 申请人地址: 浙江省杭州市下沙高教园区学正街18号;
- 专利权人: 浙江工商大学,浙江小芃科技有限公司
- 当前专利权人: 浙江工商大学,浙江小芃科技有限公司
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市下沙高教园区学正街18号;
- 代理机构: 杭州奥创知识产权代理有限公司
- 代理商 王佳健
- 主分类号: G06T7/00
- IPC分类号: G06T7/00 ; G06N3/0464 ; G06N3/08
摘要:
本发明公开了一种基于改进注意力机制的薄膜瑕疵检测方法。本发明首先实时读取薄膜图像;然后将图像输入到网络模型中进行推理;再通过推理结果判断薄膜图像中是否有瑕疵,如有则自动用红的矩形框标注,否则读取下一张薄膜图像。本发明通过对YOLOv5网络结构的简化修改,通过对网络加入轻量级的注意力模块,使得在不影响速度的前提下能有效提高瑕疵检测的准确率;该方法用于工业薄膜瑕疵检测可以有效提高薄膜产品的质量,且不需要人工干预,节省了人工及时间成本。
公开/授权文献
- CN112233090A 基于改进注意力机制的薄膜瑕疵检测方法 公开/授权日:2021-01-15