- 专利标题: 基于射频门的读写器天线调试方法及读写器天线调试装置
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申请号: CN202011148013.5申请日: 2020-10-23
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公开(公告)号: CN112306865A公开(公告)日: 2021-02-02
- 发明人: 李德建 , 唐晓柯 , 冯曦 , 陈会军 , 张喆 , 马岩 , 沈红伟
- 申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 专利权人: 北京智芯微电子科技有限公司,国网信息通信产业集团有限公司
- 当前专利权人: 北京智芯微电子科技有限公司,国网信息通信产业集团有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 代理机构: 北京润平知识产权代理有限公司
- 代理商 肖冰滨; 王晓晓
- 主分类号: G06F11/36
- IPC分类号: G06F11/36 ; G06K19/077
摘要:
本发明涉及射频测试技术领域,提供一种基于射频门的读写器天线调试方法及装置,射频门内部设置有多个电子标签和读写器天线,读写器天线连接至预先设置的读写器;所述方法包括:读写器在预设功率范围内以预设功率步长读取多个电子标签,获得每个功率点下所读到的电子标签的标识;其中,读写器在预设功率范围的最小值下读取不到任何电子标签,且读写器的预设实际工作功率位于预设功率范围内;根据每个功率点下所读到的电子标签的标识,获得多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值;根据多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值对读写器天线进行调试。本发明提供的技术方案,能够准确、快速地调试读写器天线,从而提高工作效率。
公开/授权文献
- CN112306865B 基于射频门的读写器天线调试方法及读写器天线调试装置 公开/授权日:2022-01-14