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公开(公告)号：CN112101057B
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN202011305922.5
申请日：2020-11-20
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G06K7/10
Abstract: 本发明实施例提供一种标签数量估算方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括：设定帧长度系数Q，基于最小不可检测的碰撞标签数量值Limit，获取相应帧长度内每个帧时隙内的碰撞标签数量值；统计相应帧长度内不同的碰撞标签数量值所分别对应的帧时隙数量之和；根据最小不可检测的碰撞标签数量值Limit和所述帧长度系数Q，查询对应的标签碰撞系数K；根据统计的帧时隙数量之和以及标签碰撞系数K，对标签数量进行第一轮估算，得到第一估算结果。通过上述方法，根据不同的帧长度系数Q和最小不可检测的碰撞标签数量值Limit，得到对应的碰撞系数K，使得对标签数量的估算更为准确，更加适用于标签数量较多的情况。
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公开(公告)号：CN110287748B
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN201910593565.8
申请日：2019-07-03
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司
IPC: G06K7/10
Abstract: 本发明公开了一种超高频RFID防碰撞方法，其包括：读写器向每个电子标签发送特殊约定选择命令和查询命令，其中查询命令中包括参数Q；读写器接收时隙计数器的数值为0的电子标签中的数据并发送确认命令，其中，时隙计数器的数值是电子标签的唯一电子产品编码中流水号的Q位数据，且时隙计数器的数值是电子标签在收到特殊约定选择命令和查询命令后赋值至时隙计数器的；读写器向电子标签发送查询重复命令，接收时隙计数器的数值为0的电子标签返回的数据并向电子标签发送确认命令，其中查询命令执行1次，查询重复命令最多执行2^Q‑1次，帧长度为2^Q。该超高频RFID防碰撞方法通过较为简单的运算，在不影响芯片功耗的情况下实现非常高的防碰撞效率。
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公开(公告)号：CN110851110B
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN201911120525.8
申请日：2019-11-15
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司
IPC: G06F7/535
Abstract: 本发明公开了一种无除法器的除三电路，电路中的Esum加法器用于对二进制数据中位于偶数位的各个二进制数进行相加从而得到加数Esum。Osum加法器用于对二进制数据中位于奇数位的各个二进制数进行相加从而得到加数Osum。第一多路选择器用于比较加数Esum和加数Osum，若加数Esum大于等于加数Osum，则计算加数Esum和加数Osum的差，并将加数Esum和加数Osum的差进行输出，若加数Esum小于加数Osum，则计算加数Osum和加数Esum的差，并将该差值左移1位，从而得到加数Osum和加数Esum的差的两倍，并将其进行输出。该无除法器的除三电路能够节约硬件资源、降低功耗以及成本。
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公开(公告)号：CN110413257B
公开(公告)日：2021-04-23
申请号：CN201910693756.1
申请日：2019-07-30
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司
IPC: G06F7/58
Abstract: 本发明公开了一种随机数产生电路，包括：真随机数发生器，用于接收第一时钟信号，并在所述第一时钟信号的控制下产生一位真随机数；线性反馈移位寄存器，用于接收第二时钟信号，并在所述第二时钟信号的控制下产生m位伪随机数，并输出所述m位伪随机数作为随机数产生电路的输出结果；处理电路，分别与所述线性反馈移位寄存器、所述真随机数发生器相连接，用于根据所述真随机数以及m位伪随机数进行计算，并将计算结果反馈给所述线性反馈移位寄存器。本发明提供的随机数产生电路，通过引入真随机数TRNG_A，使输出的m位TRNG随机数具有不可预测性，满足随机数高安全性的需求。
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公开(公告)号：CN109444547B
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN201811400959.9
申请日：2018-11-22
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G01R27/02
Abstract: 本发明公开了一种基于二端口网络的RFID芯片阻抗测量方法及装置，RFID芯片阻抗测量方法包括如下步骤：制作二端口微带线电路板，其中，二端口微带线电路板包括直通微带线电路板以及与直通微带线电路板等长度的带被测物的微带线电路板；校准矢量网络分析仪；测试直通微带线电路板的S参数；测试带被测物的微带线电路板的S参数；基于直通微带线电路板的S参数得到针对直通微带线电路板的第一传输矩阵；基于带被测物的微带线电路板的S参数得到针对带被测物的微带线电路板的第二传输矩阵；基于第一传输矩阵以及第二传输矩阵，计算T矩阵；以及基于T矩阵，计算RFID芯片阻抗。本发明的RFID芯片阻抗测量方法的测量结果更精准，且算法相对简单。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110289891A
公开(公告)日：2019-09-27
申请号：CN201910602610.1
申请日：2019-07-05
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明公开了一种身份识别标签芯片时钟频率的无线测试方法，包括：读写器通过读写天线向待测标签发送TRcal连续变化的query命令进行测试；读写器通过读写天线收集待测标签返回的多个信号，计算多个信号的频率均值BLF_test，并记录每次测试得到的DR、TRcal及BLF_test三个数组的值，且每个数组的长度等于测试的次数count；列函数关系式一：BLF_test＝f(TRcal，DR，CLK1，CLK2，…CLKi…，CLKn)，且次数count＞n，其中CLK1-CLKn为时钟内部的时钟频率。借此，本发明的身份识别标签芯片时钟频率的无线测试方法，成本低，测试结果更加准确。
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公开(公告)号：CN112306865B
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202011148013.5
申请日：2020-10-23
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G06F11/36 , G06K19/077
Abstract: 本发明涉及射频测试技术领域，提供一种基于射频门的读写器天线调试方法及装置，射频门内部设置有多个电子标签和读写器天线，读写器天线连接至预先设置的读写器；所述方法包括：读写器在预设功率范围内以预设功率步长读取多个电子标签，获得每个功率点下所读到的电子标签的标识；其中，读写器在预设功率范围的最小值下读取不到任何电子标签，且读写器的预设实际工作功率位于预设功率范围内；根据每个功率点下所读到的电子标签的标识，获得多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值；根据多个电子标签中每个电子标签所在位置的射频能量值对读写器天线进行调试。本发明提供的技术方案，能够准确、快速地调试读写器天线，从而提高工作效率。
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公开(公告)号：CN110289891B
公开(公告)日：2021-07-20
申请号：CN201910602610.1
申请日：2019-07-05
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明公开了一种身份识别标签芯片时钟频率的无线测试方法，包括：读写器通过读写天线向待测标签发送TRcal连续变化的query命令进行测试；读写器通过读写天线收集待测标签返回的多个信号，计算多个信号的频率均值BLF_test，并记录每次测试得到的DR、TRcal及BLF_test三个数组的值，且每个数组的长度等于测试的次数count；列函数关系式一：BLF_test＝f(TRcal，DR，CLK1，CLK2，…CLKi…，CLKn)，且次数count＞n，其中CLK1‑CLKn为时钟内部的时钟频率。借此，本发明的身份识别标签芯片时钟频率的无线测试方法，成本低，测试结果更加准确。
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公开(公告)号：CN110851110A
公开(公告)日：2020-02-28
申请号：CN201911120525.8
申请日：2019-11-15
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司
IPC: G06F7/535
Abstract: 本发明公开了一种无除法器的除三电路，电路中的Esum加法器用于对二进制数据中位于偶数位的各个二进制数进行相加从而得到加数Esum。Osum加法器用于对二进制数据中位于奇数位的各个二进制数进行相加从而得到加数Osum。第一多路选择器用于比较加数Esum和加数Osum，若加数Esum大于等于加数Osum，则计算加数Esum和加数Osum的差，并将加数Esum和加数Osum的差进行输出，若加数Esum小于加数Osum，则计算加数Osum和加数Esum的差，并将该差值左移1位，从而得到加数Osum和加数Esum的差的两倍，并将其进行输出。该无除法器的除三电路能够节约硬件资源、降低功耗以及成本。
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公开(公告)号：CN109444547A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201811400959.9
申请日：2018-11-22
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC: G01R27/02
Abstract: 本发明公开了一种基于二端口网络的RFID芯片阻抗测量方法及装置，RFID芯片阻抗测量方法包括如下步骤：制作二端口微带线电路板，其中，二端口微带线电路板包括直通微带线电路板以及与直通微带线电路板等长度的带被测物的微带线电路板；校准矢量网络分析仪；测试直通微带线电路板的S参数；测试带被测物的微带线电路板的S参数；基于直通微带线电路板的S参数得到针对直通微带线电路板的第一传输矩阵；基于带被测物的微带线电路板的S参数得到针对带被测物的微带线电路板的第二传输矩阵；基于第一传输矩阵以及第二传输矩阵，计算T矩阵；以及基于T矩阵，计算RFID芯片阻抗。本发明的RFID芯片阻抗测量方法的测量结果更精准，且算法相对简单。
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