本发明公开了一种安全芯片的掉电测试方法及装置，主控MCU接收PC机下发的第一APDU指令、第二APDU指令、第三APDU指令。主控MCU当接收到第一APDU指令后，将第一APDU指令中的电压配置参数信息存储至存储器。主控MCU当接收到第二APDU指令后，读取存储器中存储的电压配置参数信息，之后接收到第三APDU指令后，根据电压配置参数信息对电压控制单元进行控制，使得电压控制单元的输出电压值从第一电压值变化到第二电压值。并且主控MCU当接收到第三APDU指令后，将第三APDU指令中的测试数据发送给待测安全芯片。该掉电测试方法及装置增加了测试覆盖面和灵活度，并且减少了测试的复杂性。