公开(公告)号：CN112416669B

公开(公告)日：2023-07-14

申请号：CN202011171244.8

申请日：2020-10-28

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 ,  国网信息通信产业集团有限公司

发明人： 袁家辉 ,  秦理想 ,  崔永旭 ,  江海朋 ,  郭靖宇 ,  宋亚 ,  刘永富 ,  刘立宗 ,  李胜芳 ,  庞振江 ,  李延 ,  杜君 ,  刘国营 ,  付青琴 ,  时振通

IPC分类号： G06F11/22

摘要： 本发明公开了一种安全芯片的掉电测试方法及装置，主控MCU接收PC机下发的第一APDU指令、第二APDU指令、第三APDU指令。主控MCU当接收到第一APDU指令后，将第一APDU指令中的电压配置参数信息存储至存储器。主控MCU当接收到第二APDU指令后，读取存储器中存储的电压配置参数信息，之后接收到第三APDU指令后，根据电压配置参数信息对电压控制单元进行控制，使得电压控制单元的输出电压值从第一电压值变化到第二电压值。并且主控MCU当接收到第三APDU指令后，将第三APDU指令中的测试数据发送给待测安全芯片。该掉电测试方法及装置增加了测试覆盖面和灵活度，并且减少了测试的复杂性。

公开(公告)号：CN112416669A

公开(公告)日：2021-02-26

申请号：CN202011171244.8

申请日：2020-10-28

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 ,  国网信息通信产业集团有限公司

发明人： 袁家辉 ,  秦理想 ,  崔永旭 ,  江海朋 ,  郭靖宇 ,  宋亚 ,  刘永富 ,  刘立宗 ,  李胜芳 ,  庞振江 ,  李延 ,  杜君 ,  刘国营 ,  付青琴 ,  时振通

IPC分类号： G06F11/22

摘要： 本发明公开了一种安全芯片的掉电测试方法及装置，主控MCU接收PC机下发的第一APDU指令、第二APDU指令、第三APDU指令。主控MCU当接收到第一APDU指令后，将第一APDU指令中的电压配置参数信息存储至存储器。主控MCU当接收到第二APDU指令后，读取存储器中存储的电压配置参数信息，之后接收到第三APDU指令后，根据电压配置参数信息对电压控制单元进行控制，使得电压控制单元的输出电压值从第一电压值变化到第二电压值。并且主控MCU当接收到第三APDU指令后，将第三APDU指令中的测试数据发送给待测安全芯片。该掉电测试方法及装置增加了测试覆盖面和灵活度，并且减少了测试的复杂性。