发明公开
- 专利标题: 一种模拟复合绝缘子内部发热的用具及方法
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申请号: CN202011259116.9申请日: 2020-11-12
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公开(公告)号: CN112432874A公开(公告)日: 2021-03-02
- 发明人: 张洋 , 刘辉 , 刘嵘 , 周超 , 贾然 , 沈庆河 , 漆照 , 孙晓斌 , 黄振宁 , 刘传彬 , 沈浩 , 张皓 , 段玉兵 , 李思毛 , 张思远 , 杨军 , 贾明亮 , 马国庆 , 冯璨 , 张付东 , 赵金辉 , 郭伟红 , 邵帅 , 杨杰 , 裴秀高 , 金阿龙
- 申请人: 国网山东省电力公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司
- 申请人地址: 山东省济南市市中区望岳路2000号
- 专利权人: 国网山东省电力公司电力科学研究院,国家电网有限公司
- 当前专利权人: 国网山东省电力公司电力科学研究院,国家电网有限公司
- 当前专利权人地址: 山东省济南市市中区望岳路2000号
- 代理机构: 济南泉城专利商标事务所
- 代理商 李桂存
- 主分类号: G01N3/60
- IPC分类号: G01N3/60 ; G01N17/00 ; G01N3/06 ; G01N3/02 ; G05D23/27 ; H05B6/64 ; H05B6/68 ; H05B6/80
摘要:
为了尽可能模拟现场复合绝缘子发热现象,进一步研究高温对于复合绝缘子酥朽断裂的影响,提出高温导致复合绝缘子酥朽断裂的机理,以此找到预防复合绝缘子酥朽断裂的有效措施,本发明提出一种模拟复合绝缘子内部发热的用具及方法,包括外层的硅橡胶护套和被护套包裹的玻璃钢柱状芯棒,护套和芯棒临界处放置有微小的模拟缺陷,与护套和芯棒形成带缺陷的复合绝缘子;模拟缺陷与护套之间有半椭球形的空气间隙,且模拟缺陷长度远小于芯棒长度;模拟缺陷为高介损或导电性材料,护套和芯棒为绝缘材料;对上述模拟复合绝缘子样品进行微波加热,即可得到模拟的由于高温导致复合绝缘子酥朽断裂的样品。
公开/授权文献
- CN112432874B 一种模拟复合绝缘子内部发热的用具及方法 公开/授权日:2023-09-08