一种判别GIS内绝缘材料劣化程度的气敏光纤传感器
摘要:
本发明专利提供了一种判别GIS内绝缘材料劣化程度的气敏光纤传感器,由宽带光源、偏振器、测试气室、D型光子晶体光纤、单模光纤、光谱分析仪和计算机组成;D型光子晶体光纤位于测试气室内,测试气室内有控制四氟化碳气体的入口和出口;D型光子晶体光纤侧面抛光表面涂覆铂复合石墨烯薄膜,与D型光子晶体光纤熔接的单模光纤、涂覆铂复合石墨烯薄膜的D型光子晶体光纤一起构成所述一种判别GIS内绝缘材料劣化程度的气敏光纤传感器的探头。利用SPR传感机制,将四氟化碳气体折射率RI的微小变化转换成可测量的损耗峰的变化,实现折射率传感,具有灵敏度高、设计灵活、结构紧凑、稳定性强等优点,在绝缘材料劣化程度判别中具有广泛的应用价值。
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