- 专利标题: 一种便携式岩体结构面粗糙度轮廓测量仪及其测量方法
-
申请号: CN202011514550.7申请日: 2020-12-21
-
公开(公告)号: CN112484605B公开(公告)日: 2024-05-03
- 发明人: 李克钢 , 秦庆词 , 李明亮 , 刘博 , 岳睿 , 李博文 , 杜时贵
- 申请人: 昆明理工大学
- 申请人地址: 云南省昆明市五华区学府路253号
- 专利权人: 昆明理工大学
- 当前专利权人: 昆明理工大学
- 当前专利权人地址: 云南省昆明市五华区学府路253号
- 代理机构: 昆明明润知识产权代理事务所
- 代理商 马海红
- 主分类号: G01B5/20
- IPC分类号: G01B5/20 ; G01B5/28
摘要:
本发明涉及一种便携式岩体结构面粗糙度轮廓测量仪及其测量方法,属于岩土工程领域。采用触点传递装置,将壁面迹线起伏状态转换为可测指标(迹线伸长率lt和起伏幅度RY),利用密集触点传递结构面起伏状态,实现结构面起伏迹线的起伏角、伸长率和起伏幅度的快速测量,从而可进行岩体结构面粗糙度系数JRC直接估算。本发明测量方法简单,易操作,可重复性强,且实现迹线面自动复位,便于多次测量,无需进行后期轮廓面迹线长度计算与分析,大大提高结构面起伏状态指标数据的采集效率。适用于各类大型岩体结构面起伏形态指标的测量与分析,特别是岩质边坡的稳定性分析与岩体抗剪强度特性的研究,抗干扰能力强,测量方法简便、快捷,普适性更强。
公开/授权文献
- CN112484605A 一种便携式岩体结构面粗糙度轮廓测量仪及其测量方法 公开/授权日:2021-03-12