Invention Grant
- Patent Title: 一种忆阻器存内计算系统的误操作检测装置及系统
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Application No.: CN202011461486.0Application Date: 2020-12-08
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Publication No.: CN112599168BPublication Date: 2022-05-20
- Inventor: 王超 , 余国义 , 许家瑞 , 詹翊
- Applicant: 华中科技大学
- Applicant Address: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- Assignee: 华中科技大学
- Current Assignee: 华中科技大学
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- Agency: 华中科技大学专利中心
- Agent 李智
- Main IPC: G11C13/00
- IPC: G11C13/00
Abstract:
本发明公开了一种忆阻器存内计算系统的误操作检测装置及系统,属于集成电路领域,装置包括选通模块、控制模块和检测模块;选通模块选通忆阻器单元;当忆阻器单元执行蕴含逻辑时,控制检测模块检测忆阻器单元是否处于(低阻态,高阻态)输入模式并生成相应的标记结果,然后检测忆阻器单元公共节点电位,并根据标记结果、公共节点电位与第一参考电压之间的大小关系生成其操作结果;当忆阻器单元执行假逻辑时,控制检测模块检测忆阻器单元输出节点的电位,并根据输出节点的电位与第二参考电压之间的大小关系生成其操作结果。对忆阻器阈值电压老化漂移导致的所有可能误操作情况进行检测,提高运算可靠性,无需中断忆阻器当前操作,保证运算效率。
Public/Granted literature
- CN112599168A 一种忆阻器存内计算系统的误操作检测装置及系统 Public/Granted day:2021-04-02
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