本发明公开了一种电源芯片的测试系统及方法，所述系统包括：被测芯片负载板，分别与被测电源芯片和被测芯片接口相连接，用于承载所述被测电源芯片，实现所述被测电源芯片和被测芯片接口之间的连接；控制板，分别与被测芯片接口和至少一个资源接口相连接，用于实现被测芯片和测试资源的电连接；测试资源，分别与所述资源接口和上位机相连接，用于根据上位机发送的控制指令输出相应的资源信号至被测电源芯片；上位机，用于通过调用测试资源的驱动程序发送控制指令至测试资源；用于获取被测芯片输出的响应信息，并基于所述响应信息确定被测电源芯片的测试结果。本发明能够实现不同的测试场景下任意切换，提高了设备的可复用性，提高了生产效率。