- 专利标题: 分阶段金属表面缺陷检测方法、系统、介质、设备及应用
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申请号: CN202011395512.4申请日: 2020-12-02
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公开(公告)号: CN112633327B公开(公告)日: 2023-06-30
- 发明人: 张建龙 , 刘池帅 , 崔梦莹 , 王斌 , 李桥 , 何建辉 , 郭鑫宇 , 时国强 , 方光祖 , 余鑫城
- 申请人: 西安电子科技大学
- 申请人地址: 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学
- 专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市太白南路2号西安电子科技大学
- 代理机构: 西安长和专利代理有限公司
- 代理商 李霞
- 主分类号: G06V10/764
- IPC分类号: G06V10/764 ; G06V10/774 ; G06V10/82 ; G06N3/0464 ; G06T7/00
摘要:
本发明属于金属缺陷检测技术领域,公开了一种分阶段金属表面缺陷检测方法、系统、介质、设备及应用,利用VGG预训练模型提取图像第k‑1和第k层特征;取出所有训练样本的第k层特征中缺陷区域,将其中的最小特征值定为阈值T;用n*n的滑动窗口取出所有训练样本第k‑1层特征中的缺陷区域,并按行扩展成一维向量,记为正样本集,同时取出和正样本数量相当的背景区域,并按行扩展为一维向量,记为负样本集;将特征向量送入SVM,训练得到分类器。本发明规避了人工设计特征不鲁棒且耗时的难点;同时利用深层丰富的语义特征进行粗定位,利用浅层丰富的位置特征精细定位,在保证精度的情况下提高了检测效率。
公开/授权文献
- CN112633327A 分阶段金属表面缺陷检测方法、系统、介质、设备及应用 公开/授权日:2021-04-09