发明授权
- 专利标题: 质子束流的测量装置和方法
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申请号: CN202110010347.4申请日: 2021-01-05
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公开(公告)号: CN112666595B公开(公告)日: 2024-07-19
- 发明人: 刘建成 , 隋丽 , 龚毅豪 , 孔福全 , 王巧娟 , 苏鹏 , 杨智 , 赵勇乐
- 申请人: 中国原子能科学研究院
- 申请人地址: 北京市房山区新镇三强路1号院
- 专利权人: 中国原子能科学研究院
- 当前专利权人: 中国原子能科学研究院
- 当前专利权人地址: 北京市房山区新镇三强路1号院
- 代理机构: 北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司
- 代理商 王鹏鑫
- 主分类号: G01T1/29
- IPC分类号: G01T1/29
摘要:
本公开提供了一种质子束流的测量装置和方法,其中,该质子束流的测量装置包括荧光屏,荧光屏设置于一电控平台上,荧光屏与质子束流的入射路径垂直,用于接收质子束流的辐照并产生荧光效果,荧光效果用于反映质子束流的强度和均匀性。通过本公开的荧光屏,可以实现对现有技术中传统束流探测器的替代,直接通过荧光成像准确地实现对质子束流的快速检测,获取束流的强度和均匀性,同时还能够实现束斑大小的判断,极大地减少了束流测量时间,提高了样品辐照效率。
公开/授权文献
- CN112666595A 质子束流的测量装置和方法 公开/授权日:2021-04-16