质子束流的测量装置和方法

    公开(公告)号:CN112666595B

    公开(公告)日:2024-07-19

    申请号:CN202110010347.4

    申请日:2021-01-05

    IPC分类号: G01T1/29

    摘要: 本公开提供了一种质子束流的测量装置和方法,其中,该质子束流的测量装置包括荧光屏,荧光屏设置于一电控平台上,荧光屏与质子束流的入射路径垂直,用于接收质子束流的辐照并产生荧光效果,荧光效果用于反映质子束流的强度和均匀性。通过本公开的荧光屏,可以实现对现有技术中传统束流探测器的替代,直接通过荧光成像准确地实现对质子束流的快速检测,获取束流的强度和均匀性,同时还能够实现束斑大小的判断,极大地减少了束流测量时间,提高了样品辐照效率。

    一种用于快速调节束流尺度的装置

    公开(公告)号:CN115763199A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211535374.4

    申请日:2022-12-02

    IPC分类号: H01J37/20 G01R31/00 H01J37/09

    摘要: 本发明属于粒子束流控制技术领域,具体涉及一种用于快速调节束流尺度的装置,包括光阑底座(1)和光阑顶盖(7)构成的壳体,壳体上设有能够通过粒子束流的束流出口,在壳体内设有旋转驱动盘(6)、垂直活动挡板(3)和水平活动挡板(5),通过旋转驱动盘(6)的旋转带动垂直活动挡板(3)和水平活动挡板(5)运动,实现对束流出口的开启或闭合以及对束流出口的尺寸的调节,从而实现对粒子束流的尺度的调节。本发明实现了束流出口的尺寸在0cm至10×10cm之间的连续快速调节,在束流尺度方面,由原来的1cm×1cm‑5cm×5cm提升到0‑10cm×10cm,可满足大尺寸器件以及多器件同时辐照的需求,提升束流的利用率,简化了实验流程,提高了实验效率。

    质子束流的测量装置和方法

    公开(公告)号:CN112666595A

    公开(公告)日:2021-04-16

    申请号:CN202110010347.4

    申请日:2021-01-05

    IPC分类号: G01T1/29

    摘要: 本公开提供了一种质子束流的测量装置和方法,其中,该质子束流的测量装置包括荧光屏,荧光屏设置于一电控平台上,荧光屏与质子束流的入射路径垂直,用于接收质子束流的辐照并产生荧光效果,荧光效果用于反映质子束流的强度和均匀性。通过本公开的荧光屏,可以实现对现有技术中传统束流探测器的替代,直接通过荧光成像准确地实现对质子束流的快速检测,获取束流的强度和均匀性,同时还能够实现束斑大小的判断,极大地减少了束流测量时间,提高了样品辐照效率。

    一种适用于大范围重离子束流的测量监督装置

    公开(公告)号:CN116643305A

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN202310345690.3

    申请日:2023-04-03

    IPC分类号: G01T1/29 G01R31/00

    摘要: 本发明属于离子束流测量技术领域,具体涉及一种适用于大范围重离子束流的测量监督装置,包括一端设有入射口(6)的辐照靶室(1),所述辐照靶室(1)内设有样品移动平台(2),所述样品移动平台(2)上设有测量探测器,所述测量探测器用于测量从所述入射口(6)中进入的重离子束流的注量率,所述入射口(6)上设有准直器。本发明能够在器件辐照前准确测量不同高度位置处注量率,保障辐照数据的准确性;还能够在器件辐照过程中准确监督辐照到器件表面的总注量且不影响器件辐照实验研究,为星载电子学元器件的抗辐射研究提供基础数据。

    一种回旋加速器单粒子效应地面试验用束流挡束装置

    公开(公告)号:CN115915568A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202211535381.4

    申请日:2022-12-02

    IPC分类号: H05H13/00 G01T1/29

    摘要: 本发明属于粒子束流控制技术领域,具体涉及一种回旋加速器单粒子效应地面试验用束流挡束装置,设置在回旋加速器上,包括与控制箱(2)相连的快门装置(1),所述控制箱(2)能够通过无线控制方式、有线控制方式和计算机远程控制方式控制所述快门装置(1)的开关,从而实现对所述回旋加速器产生的离子束的束流的通断操作。本发明成功应用在重离子单粒子效应实验研究中提升了单粒子效应的试验能力,提升束流的利用率,简化了实验流程。