- 专利标题: 基于同轴光栅光源检测玻璃盖板缺陷的装置及方法
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申请号: CN202011550604.5申请日: 2020-12-24
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公开(公告)号: CN112730463B公开(公告)日: 2023-04-14
- 发明人: 王建刚 , 吴巍 , 路清彦
- 申请人: 深圳华工量测工程技术有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区黄阁北路449号龙岗天安数码创新园三号厂房A1002
- 专利权人: 深圳华工量测工程技术有限公司
- 当前专利权人: 深圳华工量测工程技术有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区黄阁北路449号龙岗天安数码创新园三号厂房A1002
- 代理机构: 南京纵横知识产权代理有限公司
- 代理商 徐瑛
- 主分类号: G01N21/958
- IPC分类号: G01N21/958 ; G01N21/01
摘要:
本发明公开一种基于同轴光栅光源检测玻璃盖板缺陷的装置,包括成像组件、光源组件、传动组件和控制组件,所述成像组件包括线扫相机,所述光源组件包括同轴光栅光源和分光镜,所述传动组件上放置有待测玻璃盖板,所述控制组件包括工控机和光源控制器;所述线扫相机分别与光源控制器和工控机相连,所述同轴光栅光源与光源控制器相连;所述同轴光栅光源发出的光经45°摆放的分光镜垂直反射到待测玻璃盖板表面,再经由分光镜垂直入射到线扫相机;所述光源控制器控制光源频闪并同步触发线扫相机拍照。本发明还提供一种基于同轴光栅光源检测玻璃盖板缺陷的方法。
公开/授权文献
- CN112730463A 基于同轴光栅光源检测玻璃盖板缺陷的装置及方法 公开/授权日:2021-04-30