半导体结构及其形成方法
摘要:
一种半导体结构及其形成方法,形成方法包括:提供基底,基底上形成有掩膜材料层,掩膜材料层内形成有多个间隔设置的第一沟槽,第一沟槽的延伸方向为第一方向,多个第一沟槽沿第二方向平行排列,第二方向垂直于第一方向;形成第一侧墙层和阻挡层,第一侧墙层位于第一沟槽侧壁,阻挡层位于至少一个第一沟槽中,阻挡层在第一方向上分割第一沟槽,第一侧墙层暴露出阻挡层在第一方向两侧的侧壁;在第一侧墙层露出的阻挡层侧壁形成第二侧墙层;以第一侧墙层、第二侧墙层和阻挡层为掩膜,刻蚀相邻第一沟槽之间的掩膜材料层,形成第二沟槽,第二沟槽和第一沟槽之间被第一侧墙层隔离。本发明提高通过第二侧墙层保护阻挡层,从而提高图形传递的精度。
公开/授权文献
0/0