发明公开
- 专利标题： 弧高测量方法
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申请号： CN202110270738.X申请日： 2021-03-12
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公开(公告)号： CN112964183A公开(公告)日： 2021-06-15
- 发明人: 李青 , 李赫然 , 何毅 , 展贵鑫 , 王娟娟 , 贺俊雅 , 李大洋
- 申请人： 四川旭虹光电科技有限公司 , 东旭光电科技股份有限公司 , 东旭科技集团有限公司
- 申请人地址： 四川省绵阳市经开区涪滨路北段177号; ;
- 专利权人： 四川旭虹光电科技有限公司,东旭光电科技股份有限公司,东旭科技集团有限公司
- 当前专利权人： 四川旭虹光电科技有限公司,东旭光电科技股份有限公司东旭科技集团有限公司
- 当前专利权人地址： 四川省绵阳市经开区涪滨路北段177号; ;
- 代理机构： 北京润平知识产权代理有限公司
- 代理商 肖冰滨; 王晓晓
- 主分类号： G01B11/06
- IPC分类号： G01B11/06
摘要：
本发明提供一种弧高测量方法，属于弧高测量技术领域。所述方法包括：获取弧面元件在水平方向上的投影图形的最小外包矩形，其中所述弧面元件的外弧面垂直于水平平面；根据所述最小外包矩形的边长确定所述弧面元件的弧高。本发明的弧高测量方法具有运用范围广，能够对各种形状的弧面元件进行测量，且测量数据稳定，可重复性高，采用非接触的方式进行测量，避免接触力使测量物体产生形变，保证测量的精度的优点。
公开/授权文献
- CN112964183B 弧高测量方法 公开/授权日：2022-04-12
