发明公开
- 专利标题: 一种道砟颗粒劣化指数分析仪及分析方法
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申请号: CN202110216183.0申请日: 2021-02-26
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公开(公告)号: CN112986069A公开(公告)日: 2021-06-18
- 发明人: 徐旸 , 李录壮 , 郄录朝 , 余文颖 , 王红 , 王树国 , 许良善 , 杨轶科
- 申请人: 中国铁道科学研究院集团有限公司铁道建筑研究所 , 中国铁道科学研究院集团有限公司 , 中国国家铁路集团有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区大柳树路2号二区303幢; ;
- 专利权人: 中国铁道科学研究院集团有限公司铁道建筑研究所,中国铁道科学研究院集团有限公司,中国国家铁路集团有限公司
- 当前专利权人: 中国铁道科学研究院集团有限公司铁道建筑研究所,中国铁道科学研究院集团有限公司,中国国家铁路集团有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区大柳树路2号二区303幢; ;
- 代理机构: 北京巨弘知识产权代理事务所
- 代理商 王辉
- 主分类号: G01N15/00
- IPC分类号: G01N15/00 ; G01B11/24
摘要:
本发明涉及一种道砟颗粒劣化指数分析仪及分析方法,包括壳体(1)、位置调节装置(2)、成像装置(3)和检测仪(4),所述位置调节装置(2)设置于所述壳体(1)上,所述成像装置(3)和所述检测仪(4)通过所述位置调节装置(2)搭载,所述检测仪(4)功能区设置于所述成像装置(3)成像范围内,所述检测仪(4)用于检测道砟劣化指数并分析劣化状况。检测仪通过提取道砟颗粒的特征信息,基于理论算法进行道砟颗粒的三维模型重建。将道砟颗粒外形函数化,提取道砟颗粒的形状特征进行分析。分别给出针状系数、片状系数、棱角系数和球形度,并通过加权系数得出道砟颗粒的劣化系数和评价标准。
公开/授权文献
- CN112986069B 一种道砟颗粒劣化指数分析仪 公开/授权日:2023-01-17