发明授权
- 专利标题: 一种OTA测试暗室
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申请号: CN202110351932.0申请日: 2021-03-31
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公开(公告)号: CN113156224B公开(公告)日: 2023-01-10
- 发明人: 宫剑 , 张明远 , 黄宇 , 付靖 , 许巧春 , 刘晓勇
- 申请人: 国家无线电监测中心检测中心
- 申请人地址: 北京市石景山区实兴大街30号院15号楼中国无线电检测大厦
- 专利权人: 国家无线电监测中心检测中心
- 当前专利权人: 国家无线电监测中心检测中心
- 当前专利权人地址: 北京市石景山区实兴大街30号院15号楼中国无线电检测大厦
- 代理机构: 北京智汇东方知识产权代理事务所
- 代理商 关艳芬
- 主分类号: G01R29/10
- IPC分类号: G01R29/10
摘要:
本发明提供了一种OTA测试暗室,包括:屏蔽壳体,屏蔽壳体限定暗室的内部空间;吸波材料,设置在屏蔽壳体的内墙面上;反射面,设置在暗室的内部空间的长度方向的第一端;平面波发生器,设置在内部空间的与第一端相对的第二端;转台,设置在内部空间内且位于反射面与平面波发生器之间,配置为安装待测对象;以及馈源,设置在内部空间内且位于反射面与转台之间。通过设置反射面和馈源形成紧缩场系统,设置平面波发生器形成平面波系统,并且可通过利用平面波发生器的单探头或替换的其他探头形成近场系统,平面波系统和紧缩场系统共用转台,从而实现了近场、紧缩场和平面波系统的三合一,在支持宽频和较大静区的前提下降低了暗室的成本和占用面积。
公开/授权文献
- CN113156224A 一种OTA测试暗室 公开/授权日:2021-07-23