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公开(公告)号：CN112188516A
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN202010889190.2
申请日：2020-08-28
申请人： 国家无线电监测中心检测中心
摘要： 本发明提供了一种LBT设备的信道接入机制的测试系统和方法。该系统包括：被测LBT设备；配对设备，与被测LBT设备通信连接，配置为与被测LBT设备进行信号传输；功率分配装置，连接在被测LBT设备和配对设备之间；以及频谱分析装置，与功率分配装置连接；其中，功率分配装置将从被测LBT设备一侧输入至功率分配装置的信号分配给频谱分析装置和配对设备，或将从配对设备一侧输入至功率分配装置的信号分配给频谱分析装置和被测LBT设备；频谱分析装置采集被测LBT设备与配对设备之间传输的信号，分析所采集的信号的时域波形得到被测LBT设备的信道接入性能参数，根据信道接入性能参数对被测LBT设备的信道接入机制进行评价。实现对LBT设备的信道接入机制的通用测试。
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公开(公告)号：CN108226885A
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201711448698.3
申请日：2017-12-27
申请人： 国家无线电监测中心检测中心
IPC分类号： G01S7/40
摘要： 本发明提供了一种米波雷达和射电天文之间的干扰测试系统。其中，该干扰测试系统包括：电磁屏蔽室；与被测试的毫米波雷达的频段匹配的喇叭天线，设置在电磁屏蔽室内，喇叭天线与毫米波雷达正对且距离小于预定值；雷达模拟器，设置在所述电磁屏蔽室内，所述雷达模拟器的信号输入端与喇叭天线连接，用于模拟当前测试环境下的电磁环境和当前测试距离；高精度频谱仪，设置在所述电磁屏蔽室内，所述高精度频谱仪的信号输入端与雷达模拟器的信号输出端连接，用于模拟射电天文，输出从所述高精度频谱仪的信号输入端输入到所述高精度频谱仪中的信号强度。通过本发明，降低了结果获取的复杂性和易出错性，避免了实际外场测试中人力物力的大量消耗。
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公开(公告)号：CN113156224A
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN202110351932.0
申请日：2021-03-31
申请人： 国家无线电监测中心检测中心
IPC分类号： G01R29/10
摘要： 本发明提供了一种OTA测试暗室，包括：屏蔽壳体，屏蔽壳体限定暗室的内部空间；吸波材料，设置在屏蔽壳体的内墙面上；反射面，设置在暗室的内部空间的长度方向的第一端；平面波发生器，设置在内部空间的与第一端相对的第二端；转台，设置在内部空间内且位于反射面与平面波发生器之间，配置为安装待测对象；以及馈源，设置在内部空间内且位于反射面与转台之间。通过设置反射面和馈源形成紧缩场系统，设置平面波发生器形成平面波系统，并且可通过利用平面波发生器的单探头或替换的其他探头形成近场系统，平面波系统和紧缩场系统共用转台，从而实现了近场、紧缩场和平面波系统的三合一，在支持宽频和较大静区的前提下降低了暗室的成本和占用面积。
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公开(公告)号：CN110730045A
公开(公告)日：2020-01-24
申请号：CN201910960217.X
申请日：2019-10-10
申请人： 国家无线电监测中心检测中心
IPC分类号： H04B17/17
摘要： 本发明提供了一种无线设备的带外无用发射指标的空中OTA性能测试系统，包括暗室、转台、被测无线设备、信号探测组件、频谱分析仪和控制装置，其中，暗室的路径损耗低于被测无线设备的带外无用发射指标的要求值与频谱分析仪的底噪值之间的差值。本发明采用了具有特定路径损耗值的暗室作为测试场地，通过单个信号探测组件作为探头和可进行水平和竖直旋转的转台配合进行被测无线设备的带外无用发射指标的近场测试，可以有效地保证场地路径损耗和线缆损耗在频谱分析仪上的总体offset补偿值足够小，从而使整个测试系统的底噪可被有效控制，进而获得稳定、良好的带外无用发射指标测试结果，有利于被测无线设备通过指标要求。本测试系统占地面积小、成本低。
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公开(公告)号：CN113156224B
公开(公告)日：2023-01-10
申请号：CN202110351932.0
申请日：2021-03-31
申请人： 国家无线电监测中心检测中心
IPC分类号： G01R29/10
摘要： 本发明提供了一种OTA测试暗室，包括：屏蔽壳体，屏蔽壳体限定暗室的内部空间；吸波材料，设置在屏蔽壳体的内墙面上；反射面，设置在暗室的内部空间的长度方向的第一端；平面波发生器，设置在内部空间的与第一端相对的第二端；转台，设置在内部空间内且位于反射面与平面波发生器之间，配置为安装待测对象；以及馈源，设置在内部空间内且位于反射面与转台之间。通过设置反射面和馈源形成紧缩场系统，设置平面波发生器形成平面波系统，并且可通过利用平面波发生器的单探头或替换的其他探头形成近场系统，平面波系统和紧缩场系统共用转台，从而实现了近场、紧缩场和平面波系统的三合一，在支持宽频和较大静区的前提下降低了暗室的成本和占用面积。
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公开(公告)号：CN112188516B
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202010889190.2
申请日：2020-08-28
申请人： 国家无线电监测中心检测中心
摘要： 本发明提供了一种LBT设备的信道接入机制的测试系统和方法。该系统包括：被测LBT设备；配对设备，与被测LBT设备通信连接，配置为与被测LBT设备进行信号传输；功率分配装置，连接在被测LBT设备和配对设备之间；以及频谱分析装置，与功率分配装置连接；其中，功率分配装置将从被测LBT设备一侧输入至功率分配装置的信号分配给频谱分析装置和配对设备，或将从配对设备一侧输入至功率分配装置的信号分配给频谱分析装置和被测LBT设备；频谱分析装置采集被测LBT设备与配对设备之间传输的信号，分析所采集的信号的时域波形得到被测LBT设备的信道接入性能参数，根据信道接入性能参数对被测LBT设备的信道接入机制进行评价。实现对LBT设备的信道接入机制的通用测试。
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公开(公告)号：CN111586738B
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202010203504.9
申请日：2020-03-20
申请人： 国家无线电监测中心检测中心
IPC分类号： H04W24/08 , H04B17/20 , H04B17/27 , H04B17/318
摘要： 本发明提供了一种5G基站的电磁辐射的测量方法和系统。该方法主要包括：确定待测5G基站的位置，并选取测试点；通过信号接收装置定向接收待测5G基站发射的信号；分析待测5G基站的信道功率分布以确定待测5G基站的运营商；对所接收的信号进行解调和频谱分析，得到待测5G基站的同步信号块的每个波束的参考信号接收功率；选取最佳的参考信号接收功率，根据所选取的最佳的参考信号接收功率、待测5G基站在其信道带宽上的总资源块数量、信号接收装置的增益以及待测5G基站至测试点之间的路径损耗，计算得到待测5G基站可配置的最大等效全向辐射功率。本发明可方便准确地估算出5G基站可配置的最大等效全向辐射功率，大大方便5G基站的辐射测试的开展和抽查。
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公开(公告)号：CN111970727A
公开(公告)日：2020-11-20
申请号：CN202010680894.9
申请日：2020-07-15
申请人： 国家无线电监测中心检测中心
IPC分类号： H04W24/08
摘要： 本发明提供了一种NB-IoT基站的阻塞测试系统，包括：第一信号发生器，用于产生第一频率的主信号；第二信号发生器，用于产生第二频率的干扰信号，第二频率不同于第一频率；滤波装置，与第二信号发生器连接，用于对干扰信号进行滤波处理，以抑制干扰信号在第一频率处的噪声；信号组合装置，分别与第一信号发生器和滤波装置连接，用于接收主信号和滤波后的干扰信号，并对接收的信号进行组合并输出；被测NB-IoT基站，与信号组合装置连接，以接收信号组合装置输出的组合后的信号；以及分析装置，与被测NB-IoT基站连接，用于获取被测NB-IoT基站在组合后的信号下的误码率。本发明方案可降低干扰信号在主信号频段的噪声以提高误码率测试通过率。
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公开(公告)号：CN118764112A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202410929612.2
申请日：2024-07-11
申请人： 国家无线电监测中心检测中心
IPC分类号： H04B17/318 , H04W24/08 , H04W76/15 , H04W84/12
摘要： 本发明提供了一种基于802.11be的无线设备的MLO特性的测试方法和系统。在该测试方法中，对获取的被测无线设备的发射信号进行频谱分析得到不同频率的信号强度随时间的变化图谱，根据变化图谱确定被测无线设备的工作频率和多链路并发能力，并通过对获取的发射信号的单次频率扫描测量被测无线设备的工作频率所处于的MLO特性测试要求的标准工作频率范围的上下限频率处的最大等效全向辐射功率。由此，方便且有效地实现了对MLO的多链路并发特性、并发的工作频率范围和使用频率上下限处的最大等效全向辐射功率的测试。
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公开(公告)号：CN110730045B
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN201910960217.X
申请日：2019-10-10
申请人： 国家无线电监测中心检测中心
IPC分类号： H04B17/17
摘要： 本发明提供了一种无线设备的带外无用发射指标的空中OTA性能测试系统，包括暗室、转台、被测无线设备、信号探测组件、频谱分析仪和控制装置，其中，暗室的路径损耗低于被测无线设备的带外无用发射指标的要求值与频谱分析仪的底噪值之间的差值。本发明采用了具有特定路径损耗值的暗室作为测试场地，通过单个信号探测组件作为探头和可进行水平和竖直旋转的转台配合进行被测无线设备的带外无用发射指标的近场测试，可以有效地保证场地路径损耗和线缆损耗在频谱分析仪上的总体offset补偿值足够小，从而使整个测试系统的底噪可被有效控制，进而获得稳定、良好的带外无用发射指标测试结果，有利于被测无线设备通过指标要求。本测试系统占地面积小、成本低。
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