本申请涉及半导体芯片检测设备的领域，尤其是涉及一种视觉检测装置，其包括机台，所述机台设有定点输送模块、视觉检测模块、上料模块和下料模块，所述定点输送模块连接于所述机台的一端，所述视觉检测模块的固定端连接于所述机台背离所述定点输送模块的一端，所述视觉检测模块的检测端位于所述定点输送模块的上方；所述上料模块的出料端拼接于所述定点输送模块的上料端，所述下料模块的进料端拼接于所述定点输送模块的下料端。本申请具有高效检测半导体芯片外观的效果。