本发明公开了一种RGB‑D配准精度测试方法及设备，克服了现有技术配准、去畸变运算且测试数据庞杂导致的计算资源浪费、测试难度高的问题，包括获取拍摄对象平面孔洞测试卡配准后的深度图和配准后的彩色图；提取深度图和彩色图图像上的孔洞；根据孔洞的结构特点进行拟合，获取孔洞特征点，提取轮廓中心或顶点作为特征点的坐标；计算深度图和彩色图在每个孔洞特征点上的坐标的差异，计算当前配准值，当前配准值与配准精度成反比。本发明采用直接在配准后的深度图上提取特征点的方式，更直接，因此更有效，同时输出水平、垂直方向上的像素差异，对精度的描述更直观，简化计算过程和需要处理的数据量。