本发明提供一种缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质，缺陷检测方法包括：采集不同制程工艺与尺寸的玻璃基板的图像，将图像进行预处理；将经过预处理后的图像按特征点对位拼接，得到各个不同制程工艺与尺寸对应的高分辨率图像；计算各个高分辨率图像上所有外围电路区域中像素点的灰度值的平均值和中位值得到各个不同制程工艺与尺寸玻璃基板对应的数值范围；根据待检测的玻璃基板选取相同制程工艺与尺寸对应的目标数值范围；若待检测的玻璃基板图像存在至少一个处于外围电路区域的目标像素点的灰度值不处于所述目标数值范围内，则待检测的玻璃基板有缺陷。通过本发明能适用于不同制程工艺的复杂外围电路区的缺陷检测，简化了参数设置。