确定超声波传感器隔膜状态的方法及分析系统
摘要:
本发明提出了一种方法和分析系统,其可以在操作期间确定超声波传感器(10)的隔膜(20)的状态。超声波传感器(10)的隔膜(20)被以预定的第一频率曲线的第一激励信号激励。基于此,测量取决于第一激励信号的频率(F)的第一电压曲线(29)。类似地,通过向隔膜(20)施加第二激励信号然后进行测量来确定第二电压曲线(31)。这两条电压曲线以这样的方式偏移,使得两条电压曲线(29,31)的最大值(M1,M2)的各自位置在预定频率范围(F’)中彼此匹配。确定在移位的第一和第二电压曲线(29’,31’)之间延伸的第三电压曲线(30)。基于第三电压曲线(30),通过连续激励隔膜(20)的模型来确定电参数(Rp,Rs,Cp,Cs,Lp,Ls)以确定隔膜(20)的状态。
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