- 专利标题: 确定超声波传感器隔膜状态的方法及分析系统
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申请号: CN201980087108.X申请日: 2019-11-07
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公开(公告)号: CN113272680B公开(公告)日: 2024-05-03
- 发明人: M.波珀尔 , R.古拉冈迪 , F.哈格 , B.哈弗纳
- 申请人: 法雷奥开关和传感器有限责任公司
- 申请人地址: 德国比蒂希海姆-比辛根
- 专利权人: 法雷奥开关和传感器有限责任公司
- 当前专利权人: 法雷奥开关和传感器有限责任公司
- 当前专利权人地址: 德国比蒂希海姆-比辛根
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 谭华
- 国际申请: PCT/EP2019/080457 2019.11.07
- 国际公布: WO2020/104195 DE 2020.05.28
- 进入国家日期: 2021-06-29
- 主分类号: G01S7/52
- IPC分类号: G01S7/52 ; G01S15/10
摘要:
本发明提出了一种方法和分析系统,其可以在操作期间确定超声波传感器(10)的隔膜(20)的状态。超声波传感器(10)的隔膜(20)被以预定的第一频率曲线的第一激励信号激励。基于此,测量取决于第一激励信号的频率(F)的第一电压曲线(29)。类似地,通过向隔膜(20)施加第二激励信号然后进行测量来确定第二电压曲线(31)。这两条电压曲线以这样的方式偏移,使得两条电压曲线(29,31)的最大值(M1,M2)的各自位置在预定频率范围(F’)中彼此匹配。确定在移位的第一和第二电压曲线(29’,31’)之间延伸的第三电压曲线(30)。基于第三电压曲线(30),通过连续激励隔膜(20)的模型来确定电参数(Rp,Rs,Cp,Cs,Lp,Ls)以确定隔膜(20)的状态。
公开/授权文献
- CN113272680A 确定超声波传感器隔膜状态的方法及分析系统 公开/授权日:2021-08-17