- 专利标题: 用于操作具有多个细束的带电粒子装置的装置和方法
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申请号: CN202080013100.1申请日: 2020-01-22
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公开(公告)号: CN113412531A公开(公告)日: 2021-09-17
- 发明人: B·J·库克 , D·温克勒 , R·施密特
- 申请人: ICT半导体集成电路测试有限公司
- 申请人地址: 德国海姆斯特滕
- 专利权人: ICT半导体集成电路测试有限公司
- 当前专利权人: ICT半导体集成电路测试有限公司
- 当前专利权人地址: 德国海姆斯特滕
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 侯颖媖; 张鑫
- 优先权: 16/273,961 20190212 US
- 国际申请: PCT/EP2020/051493 2020.01.22
- 国际公布: WO2020/164872 EN 2020.08.20
- 进入国家日期: 2021-08-06
- 主分类号: H01J37/147
- IPC分类号: H01J37/147 ; H01J37/28
摘要:
公开了一种操作带电粒子束装置的方法,所述方法包括使多个细束中的每个细束依序通过偏转器(6)和扫描仪(12)。用物镜将细束中的每个细束聚焦在样本上以形成多个焦斑,从而形成阵列。第一细束(4A)聚焦在第一光斑(40A)上,并且第二细束(4D)聚焦在第二光斑(40D)上。在装置的居中配置中,多个细束中的每个细束由偏转器引导朝向无彗差点(100)。在装置的细束移位的配置中,扫描仪被扫描,使得第一细束通过可接受的像差点(105),第一细束扫描经移位的第一视场;并且第一光斑从规则的第一焦斑移位到经移位的第一焦斑(45A)。
公开/授权文献
- CN113412531B 用于操作具有多个细束的带电粒子装置的装置和方法 公开/授权日:2024-08-16