Invention Grant
- Patent Title: 测量方法、测量装置、测量系统以及存储介质
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Application No.: CN202110281936.6Application Date: 2021-03-16
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Publication No.: CN113494950BPublication Date: 2023-06-27
- Inventor: 小林祥宏
- Applicant: 精工爱普生株式会社
- Applicant Address: 日本东京
- Assignee: 精工爱普生株式会社
- Current Assignee: 精工爱普生株式会社
- Current Assignee Address: 日本东京
- Agency: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- Agent 李丹
- Main IPC: G01G19/03
- IPC: G01G19/03 ; G01G3/12
Abstract:
本发明提供测量方法、测量装置、测量系统以及存储介质。该测量方法包括:获取包含移动体的各部位通过第一观测点的时刻以及作为针对作用的响应的物理量的第一观测点信息的步骤;获取包含所述各部位通过第二观测点的时刻以及作为针对作用的响应的物理量的第二观测点信息的步骤;算出所述各部位引起的结构物的挠曲波形的步骤;将所述挠曲波形相加而算出移动体挠曲波形,并根据所述移动体挠曲波形算出所述路径的挠曲波形的步骤;对第三观测点的加速度进行二次积分而算出位移波形的步骤;以及根据所述路径的挠曲波形算出对积分误差进行近似的多项式的各系数的值,并根据各系数的值对所述位移波形进行校正的步骤。
Public/Granted literature
- CN113494950A 测量方法、测量装置、测量系统以及存储介质 Public/Granted day:2021-10-12
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