Invention Grant
- Patent Title: 鉴定结构的方法
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Application No.: CN201980090290.4Application Date: 2019-11-29
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Publication No.: CN113544492BPublication Date: 2024-10-01
- Inventor: B·艾比 , E·巴拉乌尔
- Applicant: 乐卓博大学
- Applicant Address: 澳大利亚维多利亚州
- Assignee: 乐卓博大学
- Current Assignee: 乐卓博大学
- Current Assignee Address: 澳大利亚维多利亚州
- Agency: 隆天知识产权代理有限公司
- Agent 石海霞; 金鹏
- International Application: PCT/IB2019/060307 2019.11.29
- International Announcement: WO2020/110070 EN 2020.06.04
- Date entered country: 2021-07-26
- Main IPC: G01N21/552
- IPC: G01N21/552 ; G02B5/00 ; G02B21/34 ; B82Y15/00
Abstract:
描述了一种样品分析方法。该方法包括提供具有上表面和下表面的样品支架，该上表面具有与其相关联的等离子体层，该等离子体层包括周期性亚微米结构阵列。样品被施加到样品支架并被照射。在基于接收到的光的颜色形成的图像中，样品的至少一个局部结构性质是可见的。该方法包括使用该形成的图像来控制后续分析过程。该后续分析过程可以是另一种显微术过程，比如TEM、SEM等。
Public/Granted literature
- CN113544492A 鉴定结构的方法 Public/Granted day:2021-10-22
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