本发明涉及电力芯片领域，具体为一种电力芯片内核温度检测准确度的验证系统及方法，包括有测试芯片主板，所述测试芯片主板的上表面两侧边缘处固定设置有导热壳，所述导热壳的内部设置有保护壳，所述保护壳导热材质，所述保护壳的顶端与所述测试芯片主板相连接，所述保护壳远离所述测试芯片主板的一端固定设置有连接针脚，所述连接针脚的数量与所述保护壳的数量相同；有益效果：将整个测试芯片主板通过连接针脚的作用，固定在需要使用的机器上，在使用时，测试针脚所产生的热量则会通过保护壳的作用传递至导热壳的表面，随后导热壳将其接收到的热量传递至导热铜板的表面，这样方便温度测试计对其进行测试，保证温度测量的准确性。