一种用于对电源芯片进行静电放电测试的方法及系统
Abstract:
本发明公开了一种用于对电源芯片进行静电放电测试的方法及系统,将环境温度设置成25℃,湿度设置成55%RH,所有引脚对地打上产品数据手册中的静电放电电压值(+/‑),所有的引脚对Vcc打上产品数据手册中的静电放电电压值(+/‑),所有I/O引脚对I/O引脚打上产品数据手册中的静电放电电压值(+/‑),其中每个步骤执行3次打压,时间间隔为1分钟;3次打压结束后,通过判断电源芯片IV曲线变化是否超过1μA+/‑30%以及电性测试来判断电源芯片是否符合设计标准;本发明的静电放电测试方法可以节约测试时间,提升电源芯片静电放电电压测试的准确率。
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