Invention Publication
- Patent Title: 一种用于对电源芯片进行静电放电测试的方法及系统
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Application No.: CN202110184191.1Application Date: 2021-02-08
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Publication No.: CN113721123APublication Date: 2021-11-30
- Inventor: 李求洋 , 张蓬鹤 , 徐英辉 , 熊素琴 , 陈思禹 , 袁翔宇 , 张保亮 , 李扬 , 成达
- Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网山东省电力公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区清河小营东路15号; ;
- Assignee: 中国电力科学研究院有限公司,国网山东省电力公司电力科学研究院,国家电网有限公司
- Current Assignee: 中国电力科学研究院有限公司,国网山东省电力公司电力科学研究院,国家电网有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区清河小营东路15号; ;
- Agency: 北京工信联合知识产权代理有限公司
- Agent 姜丽楼
- Main IPC: G01R31/28
- IPC: G01R31/28

Abstract:
本发明公开了一种用于对电源芯片进行静电放电测试的方法及系统,将环境温度设置成25℃,湿度设置成55%RH,所有引脚对地打上产品数据手册中的静电放电电压值(+/‑),所有的引脚对Vcc打上产品数据手册中的静电放电电压值(+/‑),所有I/O引脚对I/O引脚打上产品数据手册中的静电放电电压值(+/‑),其中每个步骤执行3次打压,时间间隔为1分钟;3次打压结束后,通过判断电源芯片IV曲线变化是否超过1μA+/‑30%以及电性测试来判断电源芯片是否符合设计标准;本发明的静电放电测试方法可以节约测试时间,提升电源芯片静电放电电压测试的准确率。
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