一种智能设备ADC芯片瞬态干扰耦合叠加试验系统及方法
摘要:
本发明公开了一种智能设备ADC芯片瞬态干扰耦合叠加试验系统及方法。其中,该方法包括搭建待测试的变电站智能设备ADC芯片的测试环境;为试验所需的各个设备上电,使得变电站智能设备ADC芯片正常工作;向变电站智能设备ADC芯片注入或者耦合不同等级的瞬态电磁脉冲;以及根据获取到的变电站智能设备ADC芯片的监测数据,判断变电站智能设备ADC芯片受到的电磁干扰程度,其中监测数据为变电站智能设备ADC芯片的工作波形数据。
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