- 专利标题: 一种GaN器件的制作方法以及一种GaN器件
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申请号: CN202111042904.7申请日: 2021-09-07
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公开(公告)号: CN113745107A公开(公告)日: 2021-12-03
- 发明人: 张启华 , 吴文静 , 蒋军浩 , 袁元 , 张勇为 , 张洋 , 江慧英 , 其他发明人请求不公开姓名
- 申请人: 洪启集成电路(珠海)有限公司
- 申请人地址: 广东省珠海市高新区唐家湾镇哈工大路1号1栋C106
- 专利权人: 洪启集成电路(珠海)有限公司
- 当前专利权人: 洪启集成电路(珠海)有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省珠海市高新区唐家湾镇哈工大路1号1栋C106
- 代理机构: 广州骏思知识产权代理有限公司
- 代理商 潘桂生
- 主分类号: H01L21/335
- IPC分类号: H01L21/335 ; H01L29/778
摘要:
本发明涉及一种GaN器件的制作方法以及一种GaN器件。本发明所述的GaN器件的制作方法包括:提供半导体衬底;在半导体衬底上生长一层缓冲层;在所述缓冲层上生长一层第一GaN层;在所述第一GaN层上生长一层AlGaN层;在所述AlGaN层上再生长一层第二GaN层;将上述步骤得到的晶圆翻转,使得所述半导体衬底朝上;依次移除所述半导体衬底和所述缓冲层;对所述第一GaN层进行减薄处理,并定义所述第一GaN层的图案;在所述第一GaN层上生长一层绝缘层,并对所述绝缘层进行平坦化处理;在所述绝缘层上制备电极。本发明方法通过在原本的晶圆背面制备氮化镓晶体管需要的源极、漏极、栅极,以减少晶体管原生的晶格缺陷,大幅提升最终产品的性能、优良率以及可靠性。
公开/授权文献
- CN113745107B 一种GaN器件的制作方法 公开/授权日:2022-05-17
IPC分类: