Invention Publication

检查用连接装置
Abstract:
检查用连接装置包括:探针头(30),该探针头(30)以电连接件(10)的顶端部和光连接件(20)的顶端部分别在该探针头(30)的下表面暴露的状态保持该电连接件(10)和光连接件(20);以及转换器(40),在该转换器(40)的内部配置有连接布线(41)并且贯穿有光布线(42)。电连接件(10)的基端部和光连接件(20)的基端部分别在探针头(30)的上表面暴露,与电连接件(10)的基端部电连接的连接布线(41)的一侧的端部和与光连接件(20)的基端部光学连接的光布线(42)的连接端配置于转换器(40)的下表面。探针头(30)的下表面处的电连接件(10)的顶端部和光连接件(20)的顶端部的位置关系与半导体元件的电信号端子和光信号端子的位置关系相对应。
Public/Granted literature
Patent Agency Ranking
0/0