本公开提供了一种测试方法、装置、电子设备及介质，涉及计算机技术领域，尤其涉及芯片领域。实现方案为：响应于测试数据集中包括多个具有相同的第一序列的第一测试数据，将多个第一测试数据中的每一个第一测试数据划分为第一序列和除第一序列以外的第二序列；基于第一序列，利用第一测试系统执行对待测试对象的测试以得到第一中间测试数据；以及针对多个第一测试数据中的每一个第一测试数据，基于第一中间测试数据和该第一测试数据的第二序列，利用第二测试系统执行对待测试对象的测试以得到最终测试结果。