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公开(公告)号：CN117130846A
公开(公告)日：2023-11-28
申请号：CN202311083746.9
申请日：2023-08-25
申请人： 昆仑芯(北京)科技有限公司
IPC分类号： G06F11/263 , G06F11/22 , G06T1/20
摘要： 本公开提供了一种芯片验证方法，涉及人工智能技术领域，尤其涉及芯片技术领域和封装检测技术领域。具体实现方案为：根据多个待执行指令各自的模拟标识信息，利用待验证芯片执行多个待执行指令，得到多个写入验证数据，其中，写入验证数据包括模拟标识信息，多个待执行指令各自的模拟标识信息是根据与多个待执行指令对应的多个写入模拟数据确定的；根据与多个写入验证数据中模拟标识信息对应的多个写入模拟数据，确定多个写入验证数据的验证结果。本公开还提供了一种芯片验证装置、电子设备和存储介质。
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公开(公告)号：CN113836021B
公开(公告)日：2024-10-08
申请号：CN202111122812.X
申请日：2021-09-24
申请人： 昆仑芯(北京)科技有限公司
IPC分类号： G06F11/36
摘要： 本公开提供了一种测试方法、装置、电子设备及介质，涉及计算机技术领域，尤其涉及芯片领域。实现方案为：响应于测试数据集中包括多个具有相同的第一序列的第一测试数据，将多个第一测试数据中的每一个第一测试数据划分为第一序列和除第一序列以外的第二序列；基于第一序列，利用第一测试系统执行对待测试对象的测试以得到第一中间测试数据；以及针对多个第一测试数据中的每一个第一测试数据，基于第一中间测试数据和该第一测试数据的第二序列，利用第二测试系统执行对待测试对象的测试以得到最终测试结果。
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公开(公告)号：CN118567887A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202310200014.7
申请日：2023-02-28
申请人： 昆仑芯(北京)科技有限公司
摘要： 本公开提供了一种目标计算单元的验证方法，涉及计算机技术领域，尤其涉及芯片验证技术领域和集成电路芯片技术领域。具体实现方案为：响应于接收到目标计算单元验证请求，执行第一加载任务，其中，第一加载任务包括将外部存储单元的第一地址处的第一数据加载到第一寄存器；执行第二加载任务，其中，第二加载任务包括将第二地址加载到第二寄存器；响应于确定第一加载任务完成，基于第三寄存器和第一数据，执行第一操作；响应于确定第二加载任务完成，基于第四寄存器和第二地址，执行第二操作；以及根据第一操作的执行结果和第二操作的执行结果，确定目标计算单元的验证结果。本公开还提供了一种计算单元、处理器、电子设备和存储介质。
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公开(公告)号：CN118860497A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410979513.5
申请日：2024-07-19
申请人： 昆仑芯(北京)科技有限公司
摘要： 本公开提供了一种访存指令生成方法、装置及芯片验证方法，涉及人工智能及计算机技术领域，尤其涉及芯片技术领域。实现方案为：确定待执行的多个线程束的数量；基于多个线程束的数量对存储地址空间进行划分，以使每个线程束被分配存储地址空间中的一部分，且每个线程束对应的一部分存储地址空间彼此不重叠；基于对每个线程束的分配，确定用于每个线程束的起始地址，其中，起始地址包括第一预设偏移量；基于起始地址，确定每个线程束内的多个线程各自对应的访存地址，其中，访存地址包括第二预设偏移量；以及基于访存地址，生成访存指令。
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公开(公告)号：CN113836021A
公开(公告)日：2021-12-24
申请号：CN202111122812.X
申请日：2021-09-24
申请人： 昆仑芯(北京)科技有限公司
IPC分类号： G06F11/36
摘要： 本公开提供了一种测试方法、装置、电子设备及介质，涉及计算机技术领域，尤其涉及芯片领域。实现方案为：响应于测试数据集中包括多个具有相同的第一序列的第一测试数据，将多个第一测试数据中的每一个第一测试数据划分为第一序列和除第一序列以外的第二序列；基于第一序列，利用第一测试系统执行对待测试对象的测试以得到第一中间测试数据；以及针对多个第一测试数据中的每一个第一测试数据，基于第一中间测试数据和该第一测试数据的第二序列，利用第二测试系统执行对待测试对象的测试以得到最终测试结果。
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公开(公告)号：CN118627435A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202310258165.8
申请日：2023-03-10
申请人： 昆仑芯(北京)科技有限公司
摘要： 本公开提供了一种芯片验证方法、装置、设备、存储介质以及程序产品，涉及计算机技术领域，尤其涉及芯片技术领域。具体实现方案为：根据用于芯片验证的验证信息，生成多个待验证任务，多个待验证任务的每个待验证任务各自包括指令以及与指令相关的验证数据，多个待验证任务对应的取指地址相同；基于取指地址，获取多个待验证任务的多个指令和多个验证数据；以及利用多个指令和多个验证数据执行多个待验证任务，得到验证结果。
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公开(公告)号：CN118278332A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410455136.5
申请日：2024-04-15
申请人： 昆仑芯(北京)科技有限公司
IPC分类号： G06F30/33
摘要： 本公开提供了一种芯片验证方法及装置、设备和介质，涉及芯片技术领域，尤其涉及芯片验证技术领域。实现方案为：构建与芯片缓存对应的二叉树结构；在二叉树结构中确定缓存中每个路组相应的叶子结点；基于第一预设规则确定二叉树结构中多个结点的结点编码；将测试激励输入芯片；记录每个分支结点相对于与最近被访问路组相关联的子节点的第一方位；基于多个分支结点的第一方位，循环更新第一变量的值，直至存在结点编码与第一变量的值相同的目标叶子结点；确定目标叶子结点相应的路组为参考最近少使用路组；获取芯片记录的待测最近少使用路组；以及响应于确定参考最近少使用路组和待测最近少使用路组相同，确定芯片的验证结果为通过。
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公开(公告)号：CN118170597A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410295047.9
申请日：2024-03-14
申请人： 昆仑芯(北京)科技有限公司
摘要： 本公开提供了一种指令验证方法、装置、设备、存储介质以及程序产品，涉及计算机技术领域，尤其涉及芯片技术领域。具体实现方案为：基于多个参考指令各自的指令信息，生成覆盖组文件，覆盖组文件包括多个参考指令各自的参考覆盖点；生成针对多个测试指令的验证文件，验证文件包括多个测试指令的测试覆盖点，测试覆盖点是基于参考覆盖点确定的；执行验证文件，得到多个测试指令的追踪信息文件；以及基于追踪信息文件中的测试覆盖点，确定多个测试指令的覆盖率，覆盖率表征多个测试指令中被正确执行的测试指令的数量与多个参考指令的数量的比值。
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