- 专利标题： 一种基于孔隙类型细分的缝洞型储层饱和度模型建立方法
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申请号： CN202111249858.8申请日： 2021-10-26
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公开(公告)号： CN113989433A公开(公告)日： 2022-01-28
- 发明人: 王海涛 , 赖富强 , 苏俊磊 , 黄兆辉 , 王敏 , 刘源琦 , 蒋国强 , 张晓树 , 夏小雪 , 刘粤蛟 , 臧永钤 , 欧发辉
- 申请人： 重庆科技学院
- 申请人地址： 重庆市沙坪坝区大学城东路20号
- 专利权人： 重庆科技学院
- 当前专利权人： 重庆科技学院
- 当前专利权人地址： 重庆市沙坪坝区大学城东路20号
- 代理机构： 重庆蕴博君晟知识产权代理事务所
- 代理商 韩慧芳
- 主分类号： G06T17/00
- IPC分类号： G06T17/00
摘要：
本发明提供一种基于孔隙类型细分的缝洞型储层饱和度模型建立方法，包括以下步骤，步骤1：确定缝洞型储层孔隙类型；步骤2：基于缝洞型储层中的孔隙类型，进行饱和度模型分析；步骤3：建立缝洞型储层饱和度模型；步骤4：确定饱和度模型参数；步骤5：依据所述饱和度模型和饱和度参数进行饱和度计算。本发明解决了现有技术在各向异性储层中的饱和度模型中孔隙指数m和饱和度指数n变化范围大(不适用性)的问题。
公开/授权文献
- CN113989433B 一种基于孔隙类型细分的缝洞型储层饱和度模型建立方法 公开/授权日：2022-06-07
IPC分类:
| G | 物理 |
| G06 | 计算；推算或计数 |
| G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
| G06T17/00 | 用于计算机制图的3D建模 |
