发明公开
- 专利标题: 铜铟镓硒薄膜的制备方法、光电器件的制备方法
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申请号: CN202111244638.6申请日: 2021-10-25
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公开(公告)号: CN114005740A公开(公告)日: 2022-02-01
- 发明人: 赵晨晨 , 李伟民 , 祁同庆 , 王伟 , 张琛 , 周鸿飞 , 冯叶 , 李文杰 , 马明 , 杨春雷
- 申请人: 深圳先进技术研究院 , 中国科学院深圳理工大学(筹)
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号;
- 专利权人: 深圳先进技术研究院,中国科学院深圳理工大学(筹)
- 当前专利权人: 深圳先进技术研究院,深圳理工大学(筹)
- 当前专利权人地址: 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号
- 代理机构: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司
- 代理商 孙伟峰; 黄进
- 主分类号: H01L21/203
- IPC分类号: H01L21/203 ; H01L31/032 ; H01L31/18 ; C23C14/54 ; C23C14/24 ; C23C14/06
摘要:
本发明提供了一种铜铟镓硒薄膜的制备方法,包括步骤:S10、将基底加热至第一温度,在基底上共蒸铟、镓和硒;S20、提高基底的温度至第二温度,在基底上共蒸铜和硒;S30、保持基底的温度为第二温度,在基底上共蒸铟、镓和硒,获得铜铟镓硒薄膜;其中,步骤S10中硒的蒸气压为步骤S30中硒的蒸气压的4~8倍,步骤S20中硒的蒸气压为步骤S10中硒的蒸气压的2~8倍;步骤S10中铟和镓的蒸气压为步骤S30中铟和镓的蒸气压的4~8倍。本发明在三步共蒸发法制备铜铟镓硒薄膜的过程中,通过调控各个共蒸步骤的硒的蒸气压,可以使得共蒸设备的反应腔室的薄膜生长环境更加稳定从而有利于高质量薄膜的生长,并且还可以避免硒源的浪费从而能够更加准确地控制固态硒源的耗尽时间。