一种基于深度度量学习的EDA电路失效分析方法
摘要:
本发明公开了一种基于深度度量学习的EDA电路失效分析方法,包括步骤:一、根据原始分布对EDA电路样本进行蒙特卡罗采样,生成蒙特卡罗采样样本,并进行蒙特卡罗仿真,得到失效仿真结果;二、通过步骤一的蒙特卡罗采样样本和失效仿真结果,训练一个能够将失效样本区分出来的深度度量学习模型;三、对待进行失效分析的EDA电路,采用蒙特卡罗采样方法生成足够多的失效分析样本,并利用步骤二中训练的深度度量学习模型对样本进行筛选,筛选出可能失效样本;四、对可能失效样本进行SPICE电路仿真,得到失效的EDA电路并计算出失效率。本发明仿真效率高,可靠性高,在先进工艺大规模电路的仿真分析中具有明显的优势。
0/0