发明公开
- 专利标题: 基于图卷积网络的电容层析成像重建方法与装置
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申请号: CN202111464476.7申请日: 2021-12-02
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公开(公告)号: CN114155354A公开(公告)日: 2022-03-08
- 发明人: 李闯 , 何澳丽 , 李小龙 , 杨俊丰 , 陈杰
- 申请人: 湖南工商大学
- 申请人地址: 湖南省长沙市河西望城坡
- 专利权人: 湖南工商大学
- 当前专利权人: 湖南工商大学
- 当前专利权人地址: 湖南省长沙市河西望城坡
- 代理机构: 华进联合专利商标代理有限公司
- 代理商 周玲
- 主分类号: G06T17/20
- IPC分类号: G06T17/20 ; G06N3/04 ; G06N3/08
摘要:
本申请涉及一种基于图卷积网络的电容层析成像重建方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:根据有限元法对目标图像待测区域网格化,得到拓扑图;根据拓扑图中每个节点以及对应的两个领域节点构建像素单元,计算每个像素单元的介电常数分布,根据介电常数分布计算对应的电容值,得到拓扑图中每个节点的特征;根据拓扑图中每个节点的特征计算特征图的拉普拉斯矩阵,将拉普拉斯矩阵输入图卷积网络模型,得到输出特征图;将输出特征图在预设图卷积网络模型的全连接层进行降维,得到介质分布灰度图像。本方法通过预设图卷积网络模型挖掘复杂流形的待测区域中非欧式数据之间的特征,相比传统卷积神经网络的重建方法,提高了成像精度。
公开/授权文献
- CN114155354B 基于图卷积网络的电容层析成像重建方法与装置 公开/授权日:2023-12-15