- 专利标题: 剔除坏点及自对准喷印的μLED全彩显示制造方法与设备
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申请号: CN202111311125.2申请日: 2021-11-05
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公开(公告)号: CN114193937A公开(公告)日: 2022-03-18
- 发明人: 黄永安 , 孙宁宁 , 段永青 , 尹周平
- 申请人: 华中科技大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 代理机构: 华中科技大学专利中心
- 代理商 孔娜
- 主分类号: B41J2/21
- IPC分类号: B41J2/21 ; B41J3/407 ; B41M5/00 ; H01L27/15 ; H01L33/00 ; H01L33/62
摘要:
本发明属于半导体相关技术领域,其公开了一种剔除坏点及自对准喷印的μLED全彩显示制造方法与设备,该方法包括以下步骤:(1)将微型发光二极管(即μLED)阵列巨量转移到目标基板上且坏点未被转移;(2)电流体喷印头与单个微型发光二极管之间形成电场,并向对应的微型发光二极管喷印对应颜色的量子点溶液,进而实现微型发光二极管的全彩显示。本发明通过接通驱动电路使得UV‑μLED充当释放胶层的作用源从而实现转移,而未接通的坏点由于未产生紫外而将存留在胶层上,实现剔除坏点功能;同时,电流体喷印设备的喷头与单个芯片电极之间形成电场以实现自对准,解决了现有技术中巨量转移工艺复杂及全彩化像素分辨率限制、像素对准困难的问题。
公开/授权文献
- CN114193937B 剔除坏点及自对准喷印的μLED全彩显示制造方法与设备 公开/授权日:2022-10-14
IPC分类: