发明公开
- 专利标题: Mura缺陷补偿方法、装置、设备和存储介质
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申请号: CN202111539463.1申请日: 2021-12-15
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公开(公告)号: CN114241979A公开(公告)日: 2022-03-25
- 发明人: 张跃
- 申请人: 惠州视维新技术有限公司
- 申请人地址: 广东省惠州市仲恺高新区惠风四路78号(自主申报)
- 专利权人: 惠州视维新技术有限公司
- 当前专利权人: 惠州视维新技术有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省惠州市仲恺高新区惠风四路78号(自主申报)
- 代理机构: 深圳紫藤知识产权代理有限公司
- 代理商 林劲松
- 主分类号: G09G3/32
- IPC分类号: G09G3/32
摘要:
本申请提供一种Mura缺陷补偿方法、装置、设备和计算机可读存储介质,本申请中的Mura缺陷补偿方法包括:对Mini‑LED显示屏中显示分区的灰阶检测画面进行Mura分析,得到显示分区的Mura缺陷信息;根据Mura缺陷信息确定显示分区的灰阶偏离等级;基于灰阶偏离等级对显示分区进行背光亮度补偿,消除显示分区的Mura缺陷。本申请中的Mura缺陷补偿方法能够实现在仅通过调整Mini‑LED显示屏的背光亮度情况下解决因显示屏Mura缺陷和Mini‑LED背光区域亮暗不均导致的显示屏整体的Mura缺陷进行Mura缺陷补偿,优化Mini‑LED显示屏显示效果,提高Mini‑LED显示屏产品的生产效率。
公开/授权文献
- CN114241979B Mura缺陷补偿方法、装置、设备和存储介质 公开/授权日:2023-05-23
IPC分类: