本发明公开了一种用于开关电容阵列芯片的时间修正方法，包括：步骤1，将与待测波形形状一致的标定波形作为输入信号输入至开关电容阵列芯片，计算开关电容阵列芯片采样到标定波形的过阈时间点；步骤2，持续输入预定数量的标定波形，利用码密度法统计过阈点的码值得出统计结果，根据统计结果计算出开关电容阵列芯片的采样间隔；步骤3，利用得到的采样间隔修正时间测量结果。这种方法具有计算结果不受芯片非线性相位延时影响、精度高且简单的优点；该方法可应用于基于开关电容阵列芯片的高精度时间测量领域，包括核与粒子物理实验中的飞行时间探测系统和医疗成像领域的PET仪器等。