发明授权
- 专利标题： 光器件的三温测试系统
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申请号： CN202210244657.7申请日： 2022-03-14
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公开(公告)号： CN114323568B公开(公告)日： 2022-07-08
- 发明人: 马超 , 唐朋 , 黄秋元 , 周鹏
- 申请人： 武汉普赛斯电子技术有限公司
- 申请人地址： 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道308号光谷动力节能环保产业园9栋4楼
- 专利权人： 武汉普赛斯电子技术有限公司
- 当前专利权人： 武汉普赛斯电子技术有限公司
- 当前专利权人地址： 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道308号光谷动力节能环保产业园9栋4楼
- 代理机构： 深圳紫藤知识产权代理有限公司
- 代理商 何志军
- 主分类号： G01M11/00
- IPC分类号： G01M11/00 ; G01K13/00 ; G05D23/20
摘要：
本申请实施例提供了一种光器件的三温测试系统，通过对测试分区的控温过程和对测试分区的待测光器件测试过程循环同步，减少了测试分区的中间等待控温过程，并且通过温控仪表和温度传感器对测试分区的温度进行精准控制，极大提高了控温效率，从而提高了光器件的测试效率。
公开/授权文献
- CN114323568A 光器件的三温测试系统 公开/授权日：2022-04-12
