一种VCSEL Wafer测试系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114720857A

    公开(公告)日:2022-07-08

    申请号:CN202210444624.7

    申请日:2022-04-26

    IPC分类号: G01R31/28 G01R1/073 G01R1/04

    摘要: 本发明涉及一种VCSEL Wafer测试系统,包括底座、测试台、电极测试组件和功能测试组件,其中测试台活动设置于底座,用于安装晶圆,电极测试组件包括测试座和探针,测试座安装于底座,测试座上开设有贯穿测试座的测试空腔,探针连接于测试座并延伸至测试空腔内,用于抵接并检测晶圆,功能测试组件包括轨道和多个具有不同测试功能的独立测试模块,独立测试模块用于穿过测试空腔对晶圆进行检测。相比于现有技术,本发明将测试台和独立测试模块分别设置于电极测试组件的两侧,使二者运动互不干涉,且使得测试空腔上方预留有足够的操作空间,使整个系统能够有效地将多种不同的测试功能集成到一起,具备很好的应用前景。

    光器件的三温测试系统
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114323568B

    公开(公告)日:2022-07-08

    申请号:CN202210244657.7

    申请日:2022-03-14

    IPC分类号: G01M11/00 G01K13/00 G05D23/20

    摘要: 本申请实施例提供了一种光器件的三温测试系统,通过对测试分区的控温过程和对测试分区的待测光器件测试过程循环同步,减少了测试分区的中间等待控温过程,并且通过温控仪表和温度传感器对测试分区的温度进行精准控制,极大提高了控温效率,从而提高了光器件的测试效率。

    一种与偏振无关的OFDR测量装置及方法

    公开(公告)号:CN114088356B

    公开(公告)日:2022-06-17

    申请号:CN202111385469.8

    申请日:2021-11-22

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本申请涉及与偏振无关的OFDR测量装置及方法,该装置包括:输入模块、相位调节模块、偏振分光模块、相干检测模块以及信号处理模块;相位调节模块,用于将本振光的分光信号和目标反射光的分光信号分别进行相位延迟调节,并将调节后的本振光的分光信号和目标反射光的分光信号进行两两耦合后分光,并输出多个耦合分光信号至偏振分光模块;偏振分光模块,用于接收每个耦合分光信号并分别进行偏振分光,以对应输出每个耦合分光信号的水平态偏振光和垂直态偏振光至相干检测模块;相干检测模块,用于根据多组相同态偏振光相干产生对应的多路拍频信号,以传输至信号处理模块,使信号处理模块处理得到待测器件的频谱图。本申请能够实现无保偏测量光纤性能。

    一种Combo光器件的测试方法及测试装置

    公开(公告)号:CN113824496B

    公开(公告)日:2022-03-11

    申请号:CN202111405451.X

    申请日:2021-11-24

    IPC分类号: H04B10/079

    摘要: 本发明提供一种Combo光器件的测试方法及检测装置,在对Combo光器件进行测试时,将Combo光器件与测试板相连接,同时将供电模块、误码仪光发射模块、光分路模块以及测试模块与该测试板进行连接,然后,通过供电模块向该Combo光器件提供驱动电流并使光发射模块发射光信号,光发射模块向Combo光器件提供光信号,并形成电信号,进而在根据上述光信号和电信号对该Combo光器件的各项性能参数进行测试。整个测试工序均可在该测试板上一体化测试完成,无需分别对不同的Combo光器件端口多工步测试,从而有效的简化了测试的工艺,并且提高了测试的精度。

    一种激光器带电热插拔的保护装置

    公开(公告)号:CN113746060B

    公开(公告)日:2022-02-15

    申请号:CN202111291173.X

    申请日:2021-11-03

    IPC分类号: H02H3/02 H01S3/02

    摘要: 本发明提供了激光器带电热插拔的保护装置,包括负载模块、信号模块和控制模块,信号模块电性连接于负载模块,信号模块用于向负载模块输入预设信号,其中,本发明中通过将控制模块电性连接于负载模块以获取负载模块的工作参数,并且控制模块若判断为工作参数小于门限参数,则控制流入负载模块的电流为0,使得负载模块处于断电状态,可以避免负载模块在断路时仍然处于通电状态,从而避免负载模块由断路转化为通路的瞬间的“热插拔”动作,降低了负载模块损坏的风险。

    探测器的焦距测试方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113776789A

    公开(公告)日:2021-12-10

    申请号:CN202111324170.1

    申请日:2021-11-10

    IPC分类号: G01M11/02

    摘要: 本发明提供一种探测器的焦距测试方法,以先画圆扫描的方式确定光纤和待测探测器之间的任意一个平面中的光斑的大致位置,再在该任意一个平面中的光斑的大致位置附近以画两条直线扫描的方式确定该任意一个平面中的光斑的中心,然后再移动光纤最终确定待测探测器的焦点的所在平面,从而确定待测探测器的焦距。本发明实施例的焦距测试方法可以使得在确定样品激光器的焦点所在平面的光斑大小之后,由算法全面代替人工手动或及机器半自动操作,大大提高了单颗待测探测器的焦距的测试效率,可批量测试待测探测器的焦距,节约人力成本。

    一种紧凑型精密的四维调整平台
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113770990A

    公开(公告)日:2021-12-10

    申请号:CN202110996561.1

    申请日:2021-08-27

    IPC分类号: B25H1/16 B25H1/14 B25B11/00

    摘要: 本发明提供一种紧凑型精密的四维调整平台,其包括水平位移台、升降台、旋转台和角位移台,水平位移台、升降台、旋转台和角位移台自下而上依次设置,升降台连接于水平位移台的移动端,旋转台连接于升降台的升降端,角位移台连接于旋转台的转动端,以供水平位移台、升降台、旋转台和角位移台组合后完成四个维度的调整,升降端沿竖直方向开设有转动槽,转动端插设于转动槽并通过轴承组与转动槽内壁转动连接,以供升降台和旋转台之间紧密相连并降低四维调整平台的整体高度。本发明的四位调整平台将多个调整台合理搭配组装,结构紧凑,各调整维度结构件集成度高,可以有效减少整体设备高度。

    一种脉冲电流波形的补偿方法以及补偿电路

    公开(公告)号:CN113644899A

    公开(公告)日:2021-11-12

    申请号:CN202111204417.6

    申请日:2021-10-15

    IPC分类号: H03K5/01

    摘要: 本申请实施例提供一种脉冲电流波形的补偿方法以及补偿电路,在对脉冲波形进行补偿时,向待测物提供一脉冲电流,驱动该被测物工作,进而在通过采样模块将电路中的电流转换成电压信号,并通过转换模块将该电压信号转换成数字量信号,并对该数字量信号进行处理并比较,从补偿模块中选取对应的补偿网络单元,进而对输出的脉冲电流波形进行补偿。本申请实施例中提供的补偿方法,可自动判断补偿区间、并自动选择补偿参数,实时性强,普适性好,并且结构简单,成本低,同时能有效的吸收测试线路中因寄生感抗效应而产生的震荡,从而达到对脉冲电流的边沿进行整形,并得到预期的脉冲波形和被测器件的性能参数值。

    功率器件测试电源
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113595403A

    公开(公告)日:2021-11-02

    申请号:CN202111168221.6

    申请日:2021-10-08

    摘要: 本发明提供一种功率器件测试电源,通过升降压电路将开关电源提供的初始直流电压进行升压和/或降压处理,得到第一直流电压,以初步扩大初始直流电压的范围,然后通过推挽式升压电路将第一直流电压进行逆变和升压处理,得到第一交流电压,最后通过倍压电路将第一交流电压进行整流和升压处理,并输出第二直流电压。该功率器件测试电源通过推挽式升压电路和倍压电路对初始直流电压经过两次升压处理,其中,所述推挽式升压电路的升压倍数与所述倍压电路的升压倍数相匹配,以使得推挽式升压电路和倍压电路的升压倍数都在合理范围内,由此能同时兼顾较好输出电压和电流的能力,以能充分测试功率器件的相关性能。

    一种激光测距方法及装置
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113567995A

    公开(公告)日:2021-10-29

    申请号:CN202111139628.6

    申请日:2021-09-28

    IPC分类号: G01S17/08 G01S7/48

    摘要: 本申请实施例公开了一种激光测距方法及装置;该激光测距方法包括:所述激光发射单元向所述分光单元发射预设频率的扫频激光源,所述分光单元将所述扫频激光源分光为测量光信号和本振光信号,所述信号转换单元将经过待测器件的所述测量光信号转换为测量数字信号,以及将所述本振光信号转换为本振数字信号,所述信号处理单元处理不同频率下的所述测量数字信号和所述本振数字信号,确定与目标相位值所对应的目标距离值;本申请通过扫频方式进行测距,光路简单易搭建,而且对激光发射器的要求较低,可有效降低测量难度。