发明公开
- 专利标题: 用于增益结构的校准方法及装置、增益结构
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申请号: CN202111370838.6申请日: 2021-11-18
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公开(公告)号: CN114330175A公开(公告)日: 2022-04-12
- 发明人: 王学通 , 王慧 , 李德建 , 王喆
- 申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国网山西省电力公司 , 国家电网有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼; ; ;
- 专利权人: 北京智芯微电子科技有限公司,国网信息通信产业集团有限公司,国网山西省电力公司,国家电网有限公司
- 当前专利权人: 北京智芯微电子科技有限公司,国网信息通信产业集团有限公司,国网山西省电力公司,国家电网有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼; ; ;
- 代理机构: 北京润平知识产权代理有限公司
- 代理商 王晓晓
- 主分类号: G06F30/33
- IPC分类号: G06F30/33 ; G06N3/04 ; G06F111/08 ; G06F119/08
摘要:
本发明实施例提供一种用于增益结构的校准方法及装置、增益结构,属于芯片技术领域。所述增益结构包括多级增益芯片,每级增益芯片包括一级或多级增益档位,所述方法包括:生成针对所述增益结构的参数矩阵,其中,所述参数矩阵包括所述多级增益芯片的各级增益芯片的当前增益系数、以及针对所述增益结构的目标增益值;根据所述参数矩阵、以及用于增益配置的概率计算的计算模型,得到在使用所述增益结构的每种增益配置时,能够产生所述目标增益值的概率;以及根据所述每种增益配置对应的概率,确定出目标增益配置,以根据所述目标增益配置校准所述增益结构。其能够在准确校准增益结构的同时,节省校准的人力成本和时间成本。
公开/授权文献
- CN114330175B 用于增益结构的校准方法及装置、增益结构 公开/授权日:2023-08-18