发明公开
- 专利标题: 一种高温物体热辐射降温速率测试装置及方法
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申请号: CN202210004693.6申请日: 2022-01-05
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公开(公告)号: CN114441591A公开(公告)日: 2022-05-06
- 发明人: 周佩珩 , 刘彦宁 , 马宿林 , 李文新 , 张丽 , 邓龙江
- 申请人: 电子科技大学
- 申请人地址: 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- 专利权人: 电子科技大学
- 当前专利权人: 电子科技大学
- 当前专利权人地址: 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- 主分类号: G01N25/20
- IPC分类号: G01N25/20 ; G01K7/02 ; G01K1/143
摘要:
一种高温物体热辐射降温速率测试装置及方法,属于红外热辐射测试技术领域。所述测试装置包括低红外发射率壳体;密封盖板,所述密封盖板中心开通孔,用于安装热辐射透波窗口材料;在所述低红外发射率壳体内填充绝热内衬,形成第一腔体;在所述第一腔体中填充耐高温绝热内衬,形成第二腔体;在所述低红外发射率壳体一侧开设测试孔,测温热电偶通过测试孔穿过绝热内衬和耐高温绝热内衬后,实时检测待测样品表面的温度。本发明测试装置在待测样品上方设置热辐射透波窗口,以使高温样品产生的热辐射高效率透过该窗口材料向外辐射,便于高温样品热辐射的散发,有效防止了散发的辐射热量积聚于测试环境对样品降温速率测试准确度的影响。