I/O卡件通道精度的测试方法、系统及介质
摘要:
本申请提出了一种I/O卡件通道精度的测试方法、系统及介质,该方法包括:将待测试的输入/输出I/O卡件连接至预设的测试设备,I/O卡件具有M个通道,M为正整数;通过测试设备向每个通道分别施加对应的2n个测试数据,并获取每个测试数据对应的测试结果,n为正整数,第n+1至第2n个测试数据是与第1至第n个测试数据呈镜像对称的回程数据;根据每个通道的全部测试结果依次计算每个通道的最大回差和精度;将最大回差和所述精度与预设的标准最大回差和标准精度进行比较,判断每个通道的性能是否合格。该方法实现了I/O卡件的通道精度的自动化测试,提高了通道精度测试的效率和准确性,降低了测试成本。
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