发明公开
- 专利标题: I/O卡件通道精度的测试方法、系统及介质
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申请号: CN202210028170.5申请日: 2022-01-11
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公开(公告)号: CN114442591A公开(公告)日: 2022-05-06
- 发明人: 叶康利 , 崔同海 , 杨峰 , 郝龙 , 赵建锋 , 张达 , 杨时虎 , 许林红 , 罗智明 , 杨梦远 , 余建川 , 任鑫 , 童彤
- 申请人: 中国华能集团清洁能源技术研究院有限公司 , 华能大理风力发电有限公司洱源分公司
- 申请人地址: 北京市昌平区北七家镇未来科技城南区华能人才创新创业基地实验楼A楼;
- 专利权人: 中国华能集团清洁能源技术研究院有限公司,华能大理风力发电有限公司洱源分公司
- 当前专利权人: 中国华能集团清洁能源技术研究院有限公司,华能大理风力发电有限公司洱源分公司
- 当前专利权人地址: 北京市昌平区北七家镇未来科技城南区华能人才创新创业基地实验楼A楼;
- 主分类号: G05B23/02
- IPC分类号: G05B23/02
摘要:
本申请提出了一种I/O卡件通道精度的测试方法、系统及介质,该方法包括:将待测试的输入/输出I/O卡件连接至预设的测试设备,I/O卡件具有M个通道,M为正整数;通过测试设备向每个通道分别施加对应的2n个测试数据,并获取每个测试数据对应的测试结果,n为正整数,第n+1至第2n个测试数据是与第1至第n个测试数据呈镜像对称的回程数据;根据每个通道的全部测试结果依次计算每个通道的最大回差和精度;将最大回差和所述精度与预设的标准最大回差和标准精度进行比较,判断每个通道的性能是否合格。该方法实现了I/O卡件的通道精度的自动化测试,提高了通道精度测试的效率和准确性,降低了测试成本。
公开/授权文献
- CN114442591B I/O卡件通道精度的测试方法、系统及介质 公开/授权日:2024-01-30